HALBLEITERELEMENT UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN

Es wird ein Halbleiterelement angegeben, das Folgendes aufweist: ein Substrat vom Typ mit Leitung von vom nach hinten, das eine vorderseitige Elektrode und eine rückseitige Elektrode aufweist; sowie eine stromlos plattierte Schicht, die auf mindestens einer der Elektroden des Substrats vom Typ mit L...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Ueno, Ryuji, Sunamoto, Masatoshi
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator Ueno, Ryuji
Sunamoto, Masatoshi
description Es wird ein Halbleiterelement angegeben, das Folgendes aufweist: ein Substrat vom Typ mit Leitung von vom nach hinten, das eine vorderseitige Elektrode und eine rückseitige Elektrode aufweist; sowie eine stromlos plattierte Schicht, die auf mindestens einer der Elektroden des Substrats vom Typ mit Leitung von vom nach hinten ausgebildet ist. Die stromlos plattierte Schicht weist auf: eine stromlos plattierte Nickel-Phosphor-Schicht; sowie eine stromlos plattierte Gold-Schicht, die auf der stromlos plattierten Nickel-Phosphor-Schicht ausgebildet ist, und sie weist eine Mehrzahl von Vertiefungen auf, die an einer mit einem Lot zu verbindenden Oberfläche derselben ausgebildet sind. Provided is a semiconductor element including: a front-back conduction-type substrate including a front-side electrode and a back-side electrode; and an electroless plating layer formed on at least one of the electrodes of the front-back conduction-type substrate. The electroless plating layer includes: an electroless nickel-phosphorus plating layer; and an electroless gold plating layer formed on the electroless nickel-phosphorus plating layer, and has a plurality of recesses formed on a surface thereof to be joined with solder.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE112018000876TT5</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE112018000876TT5</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE112018000876TT53</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZLD0cPRx8nH1DHENcvVx9XX1C1EI9XNRCHMNcnP0CHL1U4gKDVLwcA0KDnH18Qn1c1dwcQ0OdvVxcvXjYWBNS8wpTuWF0twMam6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxLq6GhkYGhhYGBgYW5mYhIabGRCsEAE_zK2c</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>HALBLEITERELEMENT UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN</title><source>esp@cenet</source><creator>Ueno, Ryuji ; Sunamoto, Masatoshi</creator><creatorcontrib>Ueno, Ryuji ; Sunamoto, Masatoshi</creatorcontrib><description>Es wird ein Halbleiterelement angegeben, das Folgendes aufweist: ein Substrat vom Typ mit Leitung von vom nach hinten, das eine vorderseitige Elektrode und eine rückseitige Elektrode aufweist; sowie eine stromlos plattierte Schicht, die auf mindestens einer der Elektroden des Substrats vom Typ mit Leitung von vom nach hinten ausgebildet ist. Die stromlos plattierte Schicht weist auf: eine stromlos plattierte Nickel-Phosphor-Schicht; sowie eine stromlos plattierte Gold-Schicht, die auf der stromlos plattierten Nickel-Phosphor-Schicht ausgebildet ist, und sie weist eine Mehrzahl von Vertiefungen auf, die an einer mit einem Lot zu verbindenden Oberfläche derselben ausgebildet sind. Provided is a semiconductor element including: a front-back conduction-type substrate including a front-side electrode and a back-side electrode; and an electroless plating layer formed on at least one of the electrodes of the front-back conduction-type substrate. The electroless plating layer includes: an electroless nickel-phosphorus plating layer; and an electroless gold plating layer formed on the electroless nickel-phosphorus plating layer, and has a plurality of recesses formed on a surface thereof to be joined with solder.</description><language>ger</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; METALLURGY ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><creationdate>2019</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20191107&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=112018000876T5$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76516</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20191107&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=112018000876T5$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Ueno, Ryuji</creatorcontrib><creatorcontrib>Sunamoto, Masatoshi</creatorcontrib><title>HALBLEITERELEMENT UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN</title><description>Es wird ein Halbleiterelement angegeben, das Folgendes aufweist: ein Substrat vom Typ mit Leitung von vom nach hinten, das eine vorderseitige Elektrode und eine rückseitige Elektrode aufweist; sowie eine stromlos plattierte Schicht, die auf mindestens einer der Elektroden des Substrats vom Typ mit Leitung von vom nach hinten ausgebildet ist. Die stromlos plattierte Schicht weist auf: eine stromlos plattierte Nickel-Phosphor-Schicht; sowie eine stromlos plattierte Gold-Schicht, die auf der stromlos plattierten Nickel-Phosphor-Schicht ausgebildet ist, und sie weist eine Mehrzahl von Vertiefungen auf, die an einer mit einem Lot zu verbindenden Oberfläche derselben ausgebildet sind. Provided is a semiconductor element including: a front-back conduction-type substrate including a front-side electrode and a back-side electrode; and an electroless plating layer formed on at least one of the electrodes of the front-back conduction-type substrate. The electroless plating layer includes: an electroless nickel-phosphorus plating layer; and an electroless gold plating layer formed on the electroless nickel-phosphorus plating layer, and has a plurality of recesses formed on a surface thereof to be joined with solder.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</subject><subject>COATING METALLIC MATERIAL</subject><subject>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2019</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLD0cPRx8nH1DHENcvVx9XX1C1EI9XNRCHMNcnP0CHL1U4gKDVLwcA0KDnH18Qn1c1dwcQ0OdvVxcvXjYWBNS8wpTuWF0twMam6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxLq6GhkYGhhYGBgYW5mYhIabGRCsEAE_zK2c</recordid><startdate>20191107</startdate><enddate>20191107</enddate><creator>Ueno, Ryuji</creator><creator>Sunamoto, Masatoshi</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20191107</creationdate><title>HALBLEITERELEMENT UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN</title><author>Ueno, Ryuji ; Sunamoto, Masatoshi</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE112018000876TT53</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2019</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</topic><topic>COATING METALLIC MATERIAL</topic><topic>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Ueno, Ryuji</creatorcontrib><creatorcontrib>Sunamoto, Masatoshi</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Ueno, Ryuji</au><au>Sunamoto, Masatoshi</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>HALBLEITERELEMENT UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN</title><date>2019-11-07</date><risdate>2019</risdate><abstract>Es wird ein Halbleiterelement angegeben, das Folgendes aufweist: ein Substrat vom Typ mit Leitung von vom nach hinten, das eine vorderseitige Elektrode und eine rückseitige Elektrode aufweist; sowie eine stromlos plattierte Schicht, die auf mindestens einer der Elektroden des Substrats vom Typ mit Leitung von vom nach hinten ausgebildet ist. Die stromlos plattierte Schicht weist auf: eine stromlos plattierte Nickel-Phosphor-Schicht; sowie eine stromlos plattierte Gold-Schicht, die auf der stromlos plattierten Nickel-Phosphor-Schicht ausgebildet ist, und sie weist eine Mehrzahl von Vertiefungen auf, die an einer mit einem Lot zu verbindenden Oberfläche derselben ausgebildet sind. Provided is a semiconductor element including: a front-back conduction-type substrate including a front-side electrode and a back-side electrode; and an electroless plating layer formed on at least one of the electrodes of the front-back conduction-type substrate. The electroless plating layer includes: an electroless nickel-phosphorus plating layer; and an electroless gold plating layer formed on the electroless nickel-phosphorus plating layer, and has a plurality of recesses formed on a surface thereof to be joined with solder.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language ger
recordid cdi_epo_espacenet_DE112018000876TT5
source esp@cenet
subjects BASIC ELECTRIC ELEMENTS
CHEMICAL SURFACE TREATMENT
CHEMISTRY
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL
COATING METALLIC MATERIAL
DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL
METALLURGY
SEMICONDUCTOR DEVICES
SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION
title HALBLEITERELEMENT UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG DESSELBEN
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-19T07%3A57%3A31IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Ueno,%20Ryuji&rft.date=2019-11-07&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE112018000876TT5%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true