Optische Analysenvorrichtung

Optische Analysenvorrichtung, umfassend:eine Lichtquelle (111);einen Detektor (103);ein Substrat (133), das einen Metallfilm (136) auf mindestens einer seiner Oberflächen aufweist; undein optisches Element (105a, 105b), das einen Lichtstrahl von einer Lichtquelle (111) auf das Substrat (133) richtet...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Maeshima, Muneo, Imai, Kazumichi, Hanazaki, Yohei, Obara, Takayuki
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Optische Analysenvorrichtung, umfassend:eine Lichtquelle (111);einen Detektor (103);ein Substrat (133), das einen Metallfilm (136) auf mindestens einer seiner Oberflächen aufweist; undein optisches Element (105a, 105b), das einen Lichtstrahl von einer Lichtquelle (111) auf das Substrat (133) richtet und den Lichtstrahl vom Substrat (133) zum Detektor (103) leitet,wobei eine Mehrzahl von Probenbereichen zum Aufnehmen von Proben auf dem Metallfilm (136) angeordnet sind, undwobei ein Teil des Lichtstrahls von der Lichtquelle (111) auf einen beliebigen Probenbereich emittiert wird, zweimal oder öfter an dem Metallfilm (136) reflektiert wird, mindestens einmal an einer Oberfläche, die gegenüber der Substratseite mit dem Probenbereich liegt, reflektiert wird und nicht auf andere Probenbereiche, unter Ausschluss des Probenbereichs im optischen Pfad, emittiert wird, bis der Teil des Lichtstrahls vom optischen Element (105a, 105b) ausgeleitet wird. This optical analyzing device is provided with a light source, a detector, a substrate having a metal film on at least one surface thereof, and an optical element for introducing a light beam from the light source to the substrate and delivering the light beam from the substrate toward the detector. A plurality of sample regions for holding samples are provided on the metal film; and a portion of the light beam from the light source is irradiated to any one of the sample regions, is reflected, at least once, by the surface of the substrate on the opposite side of the side on which the sample regions are provided, and is not irradiated to a sample region other than the aforementioned sample region in the path thereof until the portion of the light beam is delivered by the optical element.