System und Verfahren zum Überwachen interner Spannungen auf einer integrierten Schaltung

System und Verfahren zum Überwachen interner Spannungen auf einer integrierten Schaltung

Ein System und ein Verfahren zum Überwachen interner Spannungsquellen in einer integrierten Schaltung, wie z. B. einer integrierten DRAM-Schaltung, umfassen eine interne Analogmultiplexschaltung, einen internen Analog-Digital-Wandler und eine Schnittstellenschaltung. Durch die Analogmultiplexschaltu...

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Hauptverfasser: BAKER, STEVEN M, ALEXANDER, GEORGE WILLIAM, MA, DAVID SUITWAI, HUCKABY, JENNIFER FAYE
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
INFORMATION STORAGE
PHYSICS
STATIC STORES
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creator BAKER, STEVEN M
ALEXANDER, GEORGE WILLIAM
MA, DAVID SUITWAI
HUCKABY, JENNIFER FAYE
description Ein System und ein Verfahren zum Überwachen interner Spannungsquellen in einer integrierten Schaltung, wie z. B. einer integrierten DRAM-Schaltung, umfassen eine interne Analogmultiplexschaltung, einen internen Analog-Digital-Wandler und eine Schnittstellenschaltung. Durch die Analogmultiplexschaltung ist der Analog-Digital-Wandler nacheinander mit jeder Spannungsquelle verbunden und wandelt den gemessenen Spannungspegel der Quelle in ein Binärwort um. Die Schnittstellenschaltung legt das Binärwort, z. B. seriell, einer Testausrüstung außerhalb der integrierten Schaltung vor.
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