System und Verfahren zum Überwachen interner Spannungen auf einer integrierten Schaltung

Ein System und ein Verfahren zum Überwachen interner Spannungsquellen in einer integrierten Schaltung, wie z. B. einer integrierten DRAM-Schaltung, umfassen eine interne Analogmultiplexschaltung, einen internen Analog-Digital-Wandler und eine Schnittstellenschaltung. Durch die Analogmultiplexschaltu...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: BAKER, STEVEN M, ALEXANDER, GEORGE WILLIAM, MA, DAVID SUITWAI, HUCKABY, JENNIFER FAYE
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Ein System und ein Verfahren zum Überwachen interner Spannungsquellen in einer integrierten Schaltung, wie z. B. einer integrierten DRAM-Schaltung, umfassen eine interne Analogmultiplexschaltung, einen internen Analog-Digital-Wandler und eine Schnittstellenschaltung. Durch die Analogmultiplexschaltung ist der Analog-Digital-Wandler nacheinander mit jeder Spannungsquelle verbunden und wandelt den gemessenen Spannungspegel der Quelle in ein Binärwort um. Die Schnittstellenschaltung legt das Binärwort, z. B. seriell, einer Testausrüstung außerhalb der integrierten Schaltung vor.