System und Verfahren zum Überwachen interner Spannungen auf einer integrierten Schaltung
Ein System und ein Verfahren zum Überwachen interner Spannungsquellen in einer integrierten Schaltung, wie z. B. einer integrierten DRAM-Schaltung, umfassen eine interne Analogmultiplexschaltung, einen internen Analog-Digital-Wandler und eine Schnittstellenschaltung. Durch die Analogmultiplexschaltu...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Ein System und ein Verfahren zum Überwachen interner Spannungsquellen in einer integrierten Schaltung, wie z. B. einer integrierten DRAM-Schaltung, umfassen eine interne Analogmultiplexschaltung, einen internen Analog-Digital-Wandler und eine Schnittstellenschaltung. Durch die Analogmultiplexschaltung ist der Analog-Digital-Wandler nacheinander mit jeder Spannungsquelle verbunden und wandelt den gemessenen Spannungspegel der Quelle in ein Binärwort um. Die Schnittstellenschaltung legt das Binärwort, z. B. seriell, einer Testausrüstung außerhalb der integrierten Schaltung vor. |
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