Analysevorrichtung mit parallelem Betrieb von Sekundärfunktionen

Es wird eine Analysevorrichtung (10) beschrieben, insbesondere für ein Probentrenngerät, zum Durchführen einer Analyse, eingerichtet zumi) Ausführen einer Primärfunktion, die direkt mit dem Durchführen der Analyse assoziiert ist; undii) Ausführen von einer ersten Sekundärfunktion (110) und einer zwe...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Mittrich, Stefan, Herynek, Udo, Busch, Kyle Robert, Witte, Timo
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Es wird eine Analysevorrichtung (10) beschrieben, insbesondere für ein Probentrenngerät, zum Durchführen einer Analyse, eingerichtet zumi) Ausführen einer Primärfunktion, die direkt mit dem Durchführen der Analyse assoziiert ist; undii) Ausführen von einer ersten Sekundärfunktion (110) und einer zweiten Sekundärfunktion (120), die indirekt mit dem Durchführen der Analyse assoziiert sind.Die Analysevorrichtung (10) ist dadurch gekennzeichnet, dass die erste Sekundärfunktion (110) und die zweite Sekundärfunktion (120) zumindest zeitweise parallel zueinander durchgeführt werden.