Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer objektabhängigen Fokusablage, Verfahren zur Vermessung eines Objekts und Koordinatenmessgerät

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung einer objektabhängigen Fokusablage eines optischen Erfassungssystems (2) zur Abbildung eines Objekts (3), welches mindestens eine optische Erfassungseinrichtung (5) und mindestens ein optisches Element (4) zur Abbildung umfasst...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Bittner, Christian
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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