Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer objektabhängigen Fokusablage, Verfahren zur Vermessung eines Objekts und Koordinatenmessgerät

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung einer objektabhängigen Fokusablage eines optischen Erfassungssystems (2) zur Abbildung eines Objekts (3), welches mindestens eine optische Erfassungseinrichtung (5) und mindestens ein optisches Element (4) zur Abbildung umfasst...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bittner, Christian
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung einer objektabhängigen Fokusablage eines optischen Erfassungssystems (2) zur Abbildung eines Objekts (3), welches mindestens eine optische Erfassungseinrichtung (5) und mindestens ein optisches Element (4) zur Abbildung umfasst, umfassend die Schritte:- Erzeugen eines ersten Abbilds des Objekts (3) durch Erfassen einer vom Objekt (3) reflektierten ersten Strahlung,- Erzeugen mindestens eines weiteren Abbilds des Objekts (3) durch Erfassen einer vom Objekt (3) reflektierten weiteren Strahlung, wobei die erste Strahlung und die weitere Strahlung verschiedene Wellenlängen aufweisen oder Wellenlängen aus verschiedenen Wellenlängenbereichen umfassen,- Bestimmen der bildpunktspezifischen Intensitätswerte im ersten und im mindestens einen weiteren Abbild für zumindest einen Bildpunkt in den Abbildern, Bestimmen der bildpunktspezifischen Fokusablage zumindest in Abhängigkeit der Intensitätswerte und einer vorbestimmten chromatischen Längsabweichung (CHL) des mindestens einen optischen Elements (4) sowie ein Verfahren zur Vermessung eines Objekts und ein Koordinatenmessgerät.