EINRICHTUNGEN UND VERFAHREN ZUM PROGRAMMIEREN MEHRERER PARAMETER PRO PIN EINES INTEGRIERTEN SCHALTKREISES
Einrichtungen und Verfahren zum Programmieren mehrerer Parameter pro Pin eines IC. In bestimmten Ausführungsformen werden Systembetriebsparameter eines IC unter Verwendung externer Komponente(n) in Verbindung mit einem internen Detektionsschaltkreis des IC eingestellt. Der interne Erkennungsschaltkr...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Einrichtungen und Verfahren zum Programmieren mehrerer Parameter pro Pin eines IC. In bestimmten Ausführungsformen werden Systembetriebsparameter eines IC unter Verwendung externer Komponente(n) in Verbindung mit einem internen Detektionsschaltkreis des IC eingestellt. Der interne Erkennungsschaltkreis ermöglicht die Programmierung mehrerer Parameter mit einem Pin des IC, wodurch die Gehäusegröße, die Platinenfläche und/oder die Chipkomplexität reduziert werden. Die vorliegenden Lehren ermöglichen beispielsweise die Detektion von drei oder mehr eindeutigen Parametern oder Zuständen pro Pin, wodurch die Anzahl der Pins und die Platinenfläche des Teils erheblich reduziert werden.
Apparatus and methods for programming multiple parameters per pin of an IC are disclosed herein. In certain embodiments, system operation parameters of an IC are set using external component(s) in conjunction with an internal detection circuit of the IC. The internal detection circuit allows for programming of multiple parameters with one pin of the IC, thereby reducing package size, board area, and/or chip complexity. For example, the teachings herein allow for detection of three or more unique parameters or states per pin, significantly reducing the part pin count and board area. |
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