VERFAHREN, LICHTMIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM ZUR LOKALISIERUNG ODER ZUM VERFOLGEN EINES EMITTERS

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Lokalisierung oder zum Verfolgen eines Emitters (E) in einer Probe (2), wobei die Probe (2) mit einer Intensitätsverteilung von Beleuchtungslicht mit einem lokalen Intensitätsminimum beleuchtet wird, wobei sich das Beleuchtungslicht auf Lichtemissionen (L) de...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Reuss, Matthias, Willemer, Winfried
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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