VERFAHREN, LICHTMIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM ZUR LOKALISIERUNG ODER ZUM VERFOLGEN EINES EMITTERS

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Lokalisierung oder zum Verfolgen eines Emitters (E) in einer Probe (2), wobei die Probe (2) mit einer Intensitätsverteilung von Beleuchtungslicht mit einem lokalen Intensitätsminimum beleuchtet wird, wobei sich das Beleuchtungslicht auf Lichtemissionen (L) des Emitters (E) auswirkt, und wobei die Intensitätsverteilung auf einer Bahn (20) um eine vermutete Position des Emitters (E) verlagert wird, wobei Lichtemissionen (L) des Emitters (E) in einem Messzeitintervall (T) zeitlich aufgelöst erfasst werden, um ein Emissionssignal (S) zu erhalten, und wobei eine Position des Emitters (E) in der Probe (2) auf Basis einer durch die Verlagerung der Intensitätsverteilung auf der Bahn (20) hervorgerufenen zeitlichen Modulation des Emissionssignals (S) geschätzt wird, sowie ein Lichtmikroskop (1) und ein Computerprogramm zur Durchführung des Verfahrens. The present disclosure relates to a method for localizing or tracking an emitter in a sample, wherein the sample is illuminated with an intensity distribution of illumination light comprising a local intensity minimum, wherein the illumination light affects light emissions of the emitter, and wherein the intensity distribution is displaced on a path around a presumed position of the emitter, wherein light emissions of the emitter are detected in a time-resolved manner in a measurement time interval in order to obtain an emission signal, and wherein a position of the emitter in the sample is estimated based on a temporal modulation of the emission signal caused by the displacement of the intensity distribution on the path, as well as a light microscope (1) and a computer program for performing the method.