Prüfvorrichtung zur Prüfung einer schmutzempfindlichen, elektrischen oder elektronischen Komponente

Prüfvorrichtung zur Prüfung einer schmutzempfindlichen, elektrischen oder elektronischen Komponente (12), mit einem Prüftisch (20), welcher eine Ablagevorrichtung (22) mit einer Ablagefläche (24) zum Ablegen der elektrischen oder elektronischen Komponente (12) und eine Absaugvorrichtung (30) aufweis...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Speichermann, Justus
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Prüfvorrichtung zur Prüfung einer schmutzempfindlichen, elektrischen oder elektronischen Komponente (12), mit einem Prüftisch (20), welcher eine Ablagevorrichtung (22) mit einer Ablagefläche (24) zum Ablegen der elektrischen oder elektronischen Komponente (12) und eine Absaugvorrichtung (30) aufweist, wobei die Ablagevorrichtung (22) an der Ablagefläche (24) mehrere Erhebungen (26) aufweist und zwischen den Erhebungen (26) mindestens eine Absaugöffnung (32) der Absaugvorrichtung (30) angeordnet ist, wobei die elektrische oder elektronische Komponente (12) an den Erhebungen (26) ablegbar ist und durch die Absaugvorrichtung (30) ein derartiger Absaugluftstrom erzeugbar ist, dass ein an der Ablagevorrichtung (22) und/oder an der elektrischen oder elektronischen Komponente (12) vorliegender Schmutz abgesaugt wird.