Lotspaltmessung an Bauteilen auf automatisch optisch zu prüfenden Leiterplatten

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Messung eines Spaltes (13) an einer Seitenfläche (B) eines Bauteils (11) auf einer mittels automatischer optischer Inspektion zu prüfenden Leiterplatte (1) umfassend eine Kameraanordnung (2), die mindestens eine unter einem Neigungswinkel α zu der Leiterplatte (1) angeordnete geneigte Kamera (21) enthält, um eine Seitenfläche (B) eines Bauteils (11) zur Untersuchung eines Spalts (13) abzubilden, eine Beleuchtungseinrichtung (3) mit einer gerichteten Beleuchtung (31;32), die eine orthogonale Ausrichtung zur Leiterplatte (1) aufweist, eine Transporteinrichtung (5), die für eine relative Bewegung zwischen Leiterpatte (1), Kameraanordnung (2) und Beleuchtungseinrichtung (3) so ausgebildet ist, dass eine Neigungswinkelebene (22) der geneigten Kamera (21) einen rechten Winkel zu der Seitenfläche (B) des Bauteils (11) einstellbar ist, und eine Steuer- und Auswerteeinrichtung (4), durch die die Beleuchtungseinrichtung (3) mindestens in der Helligkeit steuerbar ist, und synchron dazu durch die mindestens eine geneigte Kamera (21) Bilder der Seitenfläche (B) des Bauteils (11) aufnehmbar sind, und eine Bildauswerteeinheit (42) zum Detektieren von im Bild der geneigten Kamera (21) vorhandenen Kantenverläufen, aus denen eine Spaltbreite b ermittelbar ist.