Verfahren zur Erkennung von Verunreinigungen auf einer Schutzscheibe eines optischen Sensors

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erkennung von Verunreinigungen auf einer Schutzscheibe eines optischen Sensors (2), wobei ein Sensorsichtfeld (3) des Sensors (2) in ein Raster mit einer Vielzahl von Rasterzellen (Rij) aufgeteilt ist oder wird, wobei jeder Rasterzelle (Rij) in Abhängigkeit von Messungen des Sensors (2) die in einem Raumwinkel der jeweiligen Rasterzelle (Rij) durchgeführt werden, jeweils einer der Zustände kontaminiert (K), potentiell kontaminiert (PK) oder nicht kontaminiert (NK) zugeordnet wird, wobei die Zustände in aufeinanderfolgenden Zeitschritten in Abhängigkeit der jeweiligen Messung des Sensors (2) aktualisiert werden, wobei für die Aktualisierung für jede Rasterzelle (Rij), der einer der Zustände kontaminiert (K) oder potentiell kontaminiert (PK) zugeordnet ist, ein Bewegungsvektor (vKontij) der jeweiligen angenommenen Kontamination über einen vorgegebenen Zeitraum (δt) ermittelt, und mit einem ermittelten Bewegungsvektor (vUmgebung) eines sich im Raumwinkel der jeweiligen Rasterzelle (Rij) befindenden statischen Objekts (4) in der Umgebung abgeglichen wird.