Verfahren zum Ermitteln einer Profiltiefe an einem Reifen und Vorrichtung zum Ermitteln einer Profiltiefe an einem Reifen
Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zum Ermitteln einer Profiltiefe an einem Reifen an einem Fahrzeug, umfassend ein Ermitteln (S2) eines Fahrbetriebs des Reifens durch eine Steuereinrichtung (SE) und dadurch Ermitteln eines Reifenverschleißes, wobei der Reifenverschleiß durch eine vorbe...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | ger |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zum Ermitteln einer Profiltiefe an einem Reifen an einem Fahrzeug, umfassend ein Ermitteln (S2) eines Fahrbetriebs des Reifens durch eine Steuereinrichtung (SE) und dadurch Ermitteln eines Reifenverschleißes, wobei der Reifenverschleiß durch eine vorbestimmte Relation aus dem Fahrbetrieb des Reifens ermittelt wird und aus dem Reifenverschleiß eine aktuelle Veränderung der Profiltiefe und eine voraussichtliche Veränderung der Profiltiefe ermittelt wird und der Steuereinrichtung (SE) und/oder einem Nutzer bereitgestellt wird. |
---|