LOKALISIERUNG VON VERSCHMUTZUNGEN IN MIKROSKOPIESYSTEMEN

Es werden Techniken beschrieben, wie eine Verschmutzungen von Optikkomponenten eines Mikroskopiesystems durch winkelvariable Beleuchtung und entsprechende Auswertung von erfassten Bildern lokalisiert werden können. Es kann dann eine Benutzerführung bereitgestellt werden, die den Benutzer zur Reinigung der betroffenen verschmutzten Optikkomponente anleitet. Techniques are described for how contamination of optical components of a microscope system can be localized through angle-variable illumination and corresponding evaluation of captured images. User guidance may then be provided that guides the user to clean the contaminated related optical components.