LMD-Verfahren mit optischer Positionskorrektur und Vorrichtung dazu
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Bearbeiten von Werkstücken bei dem das Werkstück (1) an einer Bearbeitungsstelle (8) mit einer die Oberfläche (2) des Werkstücks (1) lokal aufheizenden Leistung beaufschlagt wird, wobei die Bearbeitungsstelle (8) als Folge einer Relativbe...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Bearbeiten von Werkstücken bei dem das Werkstück (1) an einer Bearbeitungsstelle (8) mit einer die Oberfläche (2) des Werkstücks (1) lokal aufheizenden Leistung beaufschlagt wird, wobei die Bearbeitungsstelle (8) als Folge einer Relativbewegung eines die Leistung abgebenden Bearbeitungskopfes (10) gegenüber dem Werkstück (1) auf der Oberfläche (2) in einer Vorschubrichtung (V) entlang einer von einer Steuereinrichtung (5) gesteuerten Bewegungsbahn (4) wandert, wobei mittels einer Sensoranordnung (5) in einem Beobachtungsbereich Istwerte der Geometrie des Werkstücks (1) gemessen werden, die von der Steuereinrichtung (5) zur Positionierung der Bearbeitungsstelle (8) verwendet werden. Um bei der Steuerung der Bewegungsbahn (4) der Bearbeitungsstelle (8) auf Änderungen der Geometrie des Werkstücks reagieren zu können, wird vorgeschlagen, dass der Beobachtungsbereich in der Vorschubrichtung (V) oder in einer Bearbeitungsrichtung (B), in der sich die Bearbeitungsstelle (8) nach mehrmaligem Hin- und Herbewegen auf der Oberfläche (2) bewegt, vor der Bearbeitungsstelle (8) liegt und in der Steuereinrichtung (7) Sollwerte der Geometrie des Werkstücks (1) gespeichert sind, wobei die Steuereinrichtung (7) durch In-Beziehung-Setzen der im Beobachtungsbereich gewonnenen Istwerte mit den dazu örtlich korrespondierenden Sollwerten Korrekturwerte ermittelt und diese Korrekturwerte zur Berechnung der Position der Bearbeitungsstelle (8) beim Erreichen des Beobachtungsbereichs verwendet. |
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