Steuerung der Anwendung einer allgemeinen digitale Signalverarbeitung für eine Wellenform durch maschinelles Lernen

Ein Test- und Messsystem umfasst ein maschinelles Lernsystem, das so ausgebildet ist, dass es mit einem Testautomatisierungssystem kommuniziert, eine Benutzerschnittstelle, die so ausgebildet ist, dass sie es einem Benutzer ermöglicht, eine oder mehrere Benutzereingaben bereitzustellen und dem Benutzer Ergebnisse zu liefern, und einen oder mehrere Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren so ausgebildet sind, dass sie einen Code ausführen, der den einen oder die mehreren Prozessoren veranlasst, eine oder mehrere Benutzereingaben über die Benutzerschnittstelle zu empfangen, wobei die eine oder die mehreren Benutzereingaben zumindest eine ausgewählte maschinelle Lernsystemkonfiguration identifizieren, die verwendet werden soll, um das maschinelle Lernsystem zu konfigurieren, eine Wellenform zu empfangen, die durch den Betrieb einer zu testenden Vorrichtung erzeugt wird, das ausgebildete maschinelle Lernsystem anzuwenden, um die Wellenform zu analysieren, und eine Ausgabe von vorhergesagten Metadaten über die Wellenform bereitzustellen. A test and measurement system includes a machine learning system configured to communicate with a test automation system, a user interface configured to allow a user to provide one or more user inputs and to provide results to the user, and one or more processors, the one or more processors configured to execute code that causes the one or more processors to receive one or more user inputs through the user interface, the one or more user inputs at least identifying a selected machine learning system configuration to be used to configure the machine learning system, receive a waveform created by operation of a device under test, apply the configured machine learning system to analyze the waveform, and provide an output of predicted metadata about the waveform.