Verfahren zur Überprüfung mindestens eines ersten Taktgebers eines ersten Feldgeräts in einem Prozessmesssystem

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Überprüfung mindestens eines ersten Taktgebers (T1) eines ersten Feldgeräts (F1) in einem Prozessmesssystem (P), wobei das Prozessmesssystem (P) das erste Feldgerät (F1) und mindestens zwei weitere Feldgeräte (F2, F3) mit jeweils mindestens einem Takt...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Schönborn, Nicolas, Frey, Volker, Karweck, Lars, Haag, Tanja, Malinovskiy, Alexey, Schmitt, Christoph, Vogel, Alexander, D'Angelico, Sascha
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Überprüfung mindestens eines ersten Taktgebers (T1) eines ersten Feldgeräts (F1) in einem Prozessmesssystem (P), wobei das Prozessmesssystem (P) das erste Feldgerät (F1) und mindestens zwei weitere Feldgeräte (F2, F3) mit jeweils mindestens einem Taktgeber (T2, T3) umfasst, wobei jedes Feldgerät (F1, F2, F3) mindestens einen chemischen und/oder physikalischen Parameter eines Mediums bestimmt und/oder überwacht, wobei für jeden Taktgeber (T1, T2, T3) eine Soll-Frequenz vorgegeben ist und jeder Taktgeber (T1, T2, T3) eine Ist-Frequenz erzeugt, wobei das erste Feldgerät (F1) dazu ausgestaltet ist, Informationen mit den mindestens zwei weiteren Feldgeräten (F2, F3) auszutauschen, wobei das Verfahren zumindest die folgenden Schritte vorsieht:- Erzeugen einer Ist-Frequenz des mindestens ersten Taktgebers (T1),- Übermitteln der erzeugten Ist-Frequenz und der Soll-Frequenz des mindestens ersten Taktgebers (T1) an die mindestens zwei weiteren Feldgeräte (F2, F3),- Ermitteln einer Abweichung der Ist-Frequenz von der Soll-Frequenz des mindestens ersten Taktgebers (T1) durch den jeweiligen Taktgeber (T2, T3) der mindestens zwei weiteren Feldgeräte (F2, F3),- Übermitteln der ermittelten Abweichungen an das erste Feldgerät (F1),- Vergleich der ermittelten Abweichungen und/oder eines Durchschnittswerts der ermittelten Abweichungen mit einem vorgegebenen Toleranzbereich der Soll-Frequenz des mindestens ersten Taktgebers (T1),-Ausgeben mindestens einer Zustandsinformation über den mindestens ersten Taktgeber (T1) anhand des Vergleichs. The invention relates to a method for checking at least one first clock generator (T1) of a first field device (F1) in a process measuring system (P). The process measuring system (P) comprises a first field device (F1) and at least two additional field devices (F2, F3), each of which has at least one clock generator (T2, T3), wherein each field device (F1, F2, F3) monitors at least one chemical and/or physical parameters of the media, a target frequency is specified for each clock generator (T1, T2, T3), each clock generator (T1, T2, T3) generates an actual frequency, and the first field device (F1) is designed to exchange information with the at least two additional field devices (F2, F3). The method has at least the following steps: - generating an actual frequency of at least the first clock generator (T1), - transmitting the generated actual frequency and the target frequency of at least