Vorrichtung und Verfahren zur optischen Analyse einer Oberfläche

Es werden eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur optischen Analyse einer Oberfläche (4) vorgeschlagen. Das Verfahren umfasst die Schritte: Projizieren einer ersten Vielzahl punktsymmetrischer Muster (8) auf die Oberfläche (4), optisches Erfassen der Projektion (5) mittels eines optischen Sensors (...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Herzog, Paul Robert, Lange, Oliver, Simon, Stephan
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Es werden eine Vorrichtung sowie ein Verfahren zur optischen Analyse einer Oberfläche (4) vorgeschlagen. Das Verfahren umfasst die Schritte: Projizieren einer ersten Vielzahl punktsymmetrischer Muster (8) auf die Oberfläche (4), optisches Erfassen der Projektion (5) mittels eines optischen Sensors (3) zur Erstellung erster Daten und Analysieren einer Beschaffenheit der Oberfläche (4) anhand der ersten Daten.