Stress- und/oder Dehnungsmesszelle für ein Stress- und/oder Dehnungsmesssystem

Die Erfindung betrifft eine Stress- und/oder Dehnungsmesszelle (10) für ein Stress- und/oder Dehnungsmesssystem mit: einem Referenz-Kontakt (14), einem Sensor-Kontakt (16) und einer ersten Stromspiegelschaltung (18), welche in ein Halbleitermaterial integriert ist, und einen an dem Referenz-Kontakt...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Jurgschat, Clemens, Ohms, Torsten, Roewer, Falk
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!