Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Messobjekts

Ein Verfahren zur Vermessung eines Messobjektes (1), insbesondere zur Positions- und/oder Abstandsbestimmung eines Messobjekts (1), beispielsweise zur Breitenmessung und/oder zur Ebenheitsmessung eines Messobjektes (1), mit einem entlang einer Linearachse (7) beweglichen Messsystem (2), wobei das Me...

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Hauptverfasser: Schweizer, Daniel, Kirschner, Gerhard, Füllmeier, Herbert
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Ein Verfahren zur Vermessung eines Messobjektes (1), insbesondere zur Positions- und/oder Abstandsbestimmung eines Messobjekts (1), beispielsweise zur Breitenmessung und/oder zur Ebenheitsmessung eines Messobjektes (1), mit einem entlang einer Linearachse (7) beweglichen Messsystem (2), wobei das Messsystem (2) mindestens einen Sensor (4) aufweist und wobei Mittel (9) zur Erfassung einer Position eines Referenzpunktes (8) des Messsystems (2) angeordnet sind, wobei mit dem Sensor (4) mindestens ein Messwert des Messobjektes (1) erfasst wird und wobei ein durch eine Neigung der Linearachse (7) um einen Neigungswinkel β hervorgerufener Messfehler des Messwerts ermittelt wird und wobei der Messwert um den Messfehler korrigiert wird. A method for measuring a measurement object (1), in particular for determining the position and/or distance of a measurement object (1), for example for measuring the width and/or for measuring the flatness of a measurement object (1), using a measuring system (2) movable along a linear axis (7), wherein the measuring system (2) has at least one sensor (4) and wherein means (9) are arranged to detect a position of a reference point (8) of the measuring system (2), wherein at least one measured value of the measurement object (1) is detected using the sensor (4) and wherein a measurement error of the measured value caused by an inclination of the linear axis (7) by an angle of inclination β is determined and wherein the measured value is corrected by the measurement error.