Vorrichtung zum desorbierenden Abtasten von Analytmaterial auf einem Probenträger

Die Erfindung betrifft Vorrichtungen und Verfahren zum desorbierenden Abtasten von auf einem Probenträger abgelegten Analytmaterial, welche folgende Betriebsweise beinhalten können: (a) Einstellen einer Position des Probenträgers, um einen Auftreffbereich anzufahren, auf den ein Strahl für eine örtliche Desorption von Analytmaterial gerichtet wird; (b) Ermitteln einer Ist-Position des Probenträgers nach der Positionseinstellung; (c) Abgleichen der ermittelten Ist-Position mit einer Soll-Position des Probenträgers, um eine Abweichung zu ermitteln; (d) Anpassen einer Strahlausrichtung, sofern eine Abweichung erkannt ist, derart, dass der Strahl auf den Auftreffbereich auf dem Probenträger gerichtet ist, der sich ergibt, wenn keine Abweichung vorliegt; (e) Beaufschlagen des Auftreffbereichs mit dem Strahl, um örtlich Analytmaterial zu desorbieren und einer Analyseeinrichtung zuzuführen; und (f) Prüfen, ob eine vorbestimmte Endbedingung erfüllt ist, und, falls dies nicht der Fall ist, Wiederholen der Schritte (a)-(e) für einen folgenden nicht-deckungsgleichen Auftreffbereich. Es werden Vorrichtungen und Verfahren bereitgestellt, die trotz einer Präzision in der Bewegung einer Translationseinrichtung für den Probenträger, die für bestimmte Anforderungen an eine Ortsauflösung der Abtastung ausgelegt ist, auch bei erhöhten Anforderungen eine ortstreue Desorption von Analytmaterial über ausgedehnte Flächenbereiche ermöglichen. The invention relates to devices and methods for desorption scanning of analyte material deposited on a sample support, which can comprise the following mode of operation: (a) setting a position of the support to approach an impingement region onto which a beam is directed for local desorption of analyte material; (b) determining an actual position of the support after setting the position; (c) comparing the determined actual position with a target position of the support to determine any deviation; (d) adjusting a beam orientation, if a deviation is detected, so that the beam is directed onto the impingement region on the support that results when there is no deviation; (e) applying the beam to the impingement region to locally desorb analyte material and deliver it to an analyzer; and (f) checking whether a predetermined end condition is satisfied and, if not, repeating steps (a)-(e) for a subsequent non-congruent impingement region.