Probensammler mit einem Endlos-Probenträger zur Fixierung von einem Luftstrom entnommenen Partikeln sowie zugehöriges Verfahren
Die Erfindung betrifft einen Probensammler (1) mit einem Endlos-Probenträger (10) zur Fixierung von einem Luftstrom (L) entnommenen Partikeln (P) für eine Analyse der Partikel (P) und einem Antrieb (20) zum Antrieb des Endlos-Probenträgers (10), wobei der Endlos-Probenträger (10) einen Träger (11) u...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
Schlagworte: | |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft einen Probensammler (1) mit einem Endlos-Probenträger (10) zur Fixierung von einem Luftstrom (L) entnommenen Partikeln (P) für eine Analyse der Partikel (P) und einem Antrieb (20) zum Antrieb des Endlos-Probenträgers (10), wobei der Endlos-Probenträger (10) einen Träger (11) und eine darauf aufgebrachte Haftschicht (12) aufweist, auf welcher die Partikel (P) fixierbar sind, wobei der Antrieb (20) ausgebildet ist, den Endlos-Probenträger (10) anzutreiben und einen Abschnitt des Endlos-Probenträgers (10) von einer ersten Position (31), an welcher Partikel (P) auf die Haftschicht (12) des Endlos-Probenträgers (10) aufbringbar sind, entlang einer Förderrichtung (30) zu einer zweiten Position (32), an welcher die auf der Haftschicht (12) aufgebrachten Partikel (P) analysierbar sind, zu fördern.
The invention relates to a sample collector (1) having an endless sample carrier (10) for fixing particles (P) extracted from an air stream (L) for analysis of the particles (P) and having a drive (20) for driving the endless sample carrier (10), wherein the endless sample carrier (10) has a substrate (11) and an adhesive layer (12) applied thereto, on which the particles (P) can be fixed, wherein the drive (20) is designed to drive the endless sample carrier (10) and to convey a portion of the endless sample carrier (10) from a first position (31) at which particles (P) can be applied to the adhesive layer (12) of the endless sample carrier (10), in a conveying direction (30), to a second position (32) at which the particles (P) applied to the adhesive layer (12) can be analysed. |
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