INTEGRIERTER SELBSTTEST FÜR LEUCHTDIODEN

In einigen Beispielen enthält eine Einrichtung einen integrierten Selbsttest zum Detektieren eines Fehlers zwischen einer ersten Leuchtdiode (LED) und einer zweiten LED. Die Einrichtung enthält ein erstes Paar von Pads, das ausgelegt ist zum Verbinden mit der ersten LED, und ein zweites Paar von Pads, das ausgelegt ist zum Verbinden mit der zweiten LED. Der integrierte Selbsttest ist ausgelegt zum Steuern eines ersten Treibers und eines zweiten Treibers zum einzelnen Einschalten jeweiliger mit dem ersten und zweiten Paar von Pads verbundener Durchlassschalter. Der integrierte Selbsttest ist ausgelegt, um dann die erste und zweite Durchlassspannung an der ersten und zweiten LED zu bestimmen. Der integrierte Selbsttest kann bestimmen, ob der Fehler zwischen der ersten und zweiten LED vorliegt, auf Basis der Durchlassspannungen. In some examples, a device includes a built-in self-test for detecting a fault between a first light emitting diode (LED) and a second LED. The device includes a first pair of pads configured to connect to the first LED and a second pair of pads configured to connect to the second LED. The built-in self-test is configured to control a first driver and a second driver to turn on, one-by-one, respective pass switches connected to the first and second pairs of pads. The built-in self-test is configured to then determine the first and second forward voltages across the first and second LEDs. The built-in self-test can determine whether the fault exists between the first and second LEDs based on the forward voltages.