Nichtflüchtige Speichervorrichtung und Verfahren zum Erfassen eines fehlerhaften Speicherzellenblocks einer nichtflüchtigen Speichervorrichtung

Ein Verfahren zum Erfassen, durch ein nichtflüchtiges Speichersystem, eines fehlerhaften Speicherzellenblocks aus Speicherzellenblöcken enthält: Durchführen, nach Durchführen einer Löschoperation, einer Leseoperation an mindestens einigen Speicherzellen, die in einem Ziel-Speicherzellenblock enthalt...

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Hauptverfasser: Jung, Wontaeck, Kim, Daehan, Lee, Myungnam
Format: Patent
Sprache:ger
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creator Jung, Wontaeck
Kim, Daehan
Lee, Myungnam
description Ein Verfahren zum Erfassen, durch ein nichtflüchtiges Speichersystem, eines fehlerhaften Speicherzellenblocks aus Speicherzellenblöcken enthält: Durchführen, nach Durchführen einer Löschoperation, einer Leseoperation an mindestens einigen Speicherzellen, die in einem Ziel-Speicherzellenblock enthalten sind, basierend auf einer Aus-Zellen-Erfassungsspannung, die sich von einer Lesebezugsspannung unterscheidet, die eine Aus-Zelle, in der keine Daten geschrieben sind, von einer An-Zelle, in der Daten geschrieben sind, unterscheidet; Zählen einer Anzahl an harten Aus-Zellen mit einer höheren Schwellenspannung als die Aus-Zellen-Erfassungsspannung aus den Speicherzellen basierend auf einem Durchführungsergebnis der Leseoperation; und Identifizieren, ob der Ziel-Speicherzellenblock ein fehlerhafter Speicherzellenblock ist, basierend auf der Anzahl an harten Aus-Zellen. A method of detecting, by a nonvolatile memory system, a defective memory cell block from among memory cell blocks, includes performing, after performing an erase operation, a read operation on at least some memory cells included in a target memory cell block based on an off-cell detection voltage that is different from a read reference voltage that distinguishes an off-cell on which no data is written from an on-cell on which data is written; counting a number of hard off-cells having a higher threshold voltage than the off-cell detection voltage from among the memory cells based on a result of performing the read operation; and identifying whether the target memory cell block is a defective memory cell block based on the number of counted hard off-cells.
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A method of detecting, by a nonvolatile memory system, a defective memory cell block from among memory cell blocks, includes performing, after performing an erase operation, a read operation on at least some memory cells included in a target memory cell block based on an off-cell detection voltage that is different from a read reference voltage that distinguishes an off-cell on which no data is written from an on-cell on which data is written; counting a number of hard off-cells having a higher threshold voltage than the off-cell detection voltage from among the memory cells based on a result of performing the read operation; and identifying whether the target memory cell block is a defective memory cell block based on the number of counted hard off-cells.</description><language>ger</language><subject>ELECTRICITY ; INFORMATION STORAGE ; PHYSICS ; STATIC STORES</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220217&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102021107114A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220217&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102021107114A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Jung, Wontaeck</creatorcontrib><creatorcontrib>Kim, Daehan</creatorcontrib><creatorcontrib>Lee, Myungnam</creatorcontrib><title>Nichtflüchtige Speichervorrichtung und Verfahren zum Erfassen eines fehlerhaften Speicherzellenblocks einer nichtflüchtigen Speichervorrichtung</title><description>Ein Verfahren zum Erfassen, durch ein nichtflüchtiges Speichersystem, eines fehlerhaften Speicherzellenblocks aus Speicherzellenblöcken enthält: Durchführen, nach Durchführen einer Löschoperation, einer Leseoperation an mindestens einigen Speicherzellen, die in einem Ziel-Speicherzellenblock enthalten sind, basierend auf einer Aus-Zellen-Erfassungsspannung, die sich von einer Lesebezugsspannung unterscheidet, die eine Aus-Zelle, in der keine Daten geschrieben sind, von einer An-Zelle, in der Daten geschrieben sind, unterscheidet; Zählen einer Anzahl an harten Aus-Zellen mit einer höheren Schwellenspannung als die Aus-Zellen-Erfassungsspannung aus den Speicherzellen basierend auf einem Durchführungsergebnis der Leseoperation; und Identifizieren, ob der Ziel-Speicherzellenblock ein fehlerhafter Speicherzellenblock ist, basierend auf der Anzahl an harten Aus-Zellen. A method of detecting, by a nonvolatile memory system, a defective memory cell block from among memory cell blocks, includes performing, after performing an erase operation, a read operation on at least some memory cells included in a target memory cell block based on an off-cell detection voltage that is different from a read reference voltage that distinguishes an off-cell on which no data is written from an on-cell on which data is written; counting a number of hard off-cells having a higher threshold voltage than the off-cell detection voltage from among the memory cells based on a result of performing the read operation; and identifying whether the target memory cell block is a defective memory cell block based on the number of counted hard off-cells.</description><subject>ELECTRICITY</subject><subject>INFORMATION STORAGE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>STATIC STORES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZJjol5mcUZKWc3gPkMpMT1UILkgFiqQWleUXFYGkSvPSFUrzUhTCUovSEjOKUvMUqkpzFVyBnOJiICc1My-1WCEtNSMntSgjMa0EKAQzoSo1Jyc1LyknPzm7GKyuSCEP1bI8bLbxMLCmJeYUp_JCaW4GVTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JJ4F1dDAyMDI0NDA3NDQxNHQ2Ni1QEA0TVU4w</recordid><startdate>20220217</startdate><enddate>20220217</enddate><creator>Jung, Wontaeck</creator><creator>Kim, Daehan</creator><creator>Lee, Myungnam</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220217</creationdate><title>Nichtflüchtige Speichervorrichtung und Verfahren zum Erfassen eines fehlerhaften Speicherzellenblocks einer nichtflüchtigen Speichervorrichtung</title><author>Jung, Wontaeck ; Kim, Daehan ; Lee, Myungnam</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102021107114A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2022</creationdate><topic>ELECTRICITY</topic><topic>INFORMATION STORAGE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>STATIC STORES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Jung, Wontaeck</creatorcontrib><creatorcontrib>Kim, Daehan</creatorcontrib><creatorcontrib>Lee, Myungnam</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Jung, Wontaeck</au><au>Kim, Daehan</au><au>Lee, Myungnam</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Nichtflüchtige Speichervorrichtung und Verfahren zum Erfassen eines fehlerhaften Speicherzellenblocks einer nichtflüchtigen Speichervorrichtung</title><date>2022-02-17</date><risdate>2022</risdate><abstract>Ein Verfahren zum Erfassen, durch ein nichtflüchtiges Speichersystem, eines fehlerhaften Speicherzellenblocks aus Speicherzellenblöcken enthält: Durchführen, nach Durchführen einer Löschoperation, einer Leseoperation an mindestens einigen Speicherzellen, die in einem Ziel-Speicherzellenblock enthalten sind, basierend auf einer Aus-Zellen-Erfassungsspannung, die sich von einer Lesebezugsspannung unterscheidet, die eine Aus-Zelle, in der keine Daten geschrieben sind, von einer An-Zelle, in der Daten geschrieben sind, unterscheidet; Zählen einer Anzahl an harten Aus-Zellen mit einer höheren Schwellenspannung als die Aus-Zellen-Erfassungsspannung aus den Speicherzellen basierend auf einem Durchführungsergebnis der Leseoperation; und Identifizieren, ob der Ziel-Speicherzellenblock ein fehlerhafter Speicherzellenblock ist, basierend auf der Anzahl an harten Aus-Zellen. 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