Verfahren und Vorrichtung zum kontinuierlichen Bestimmen eines Gütemaßes

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum insbesondere kontinuierlichen Bestimmen eines Gütemaßes (G) für eine Regelung einer technischen Vorrichtung (3) oder für ein Systemmodell eines technischen Systems aus einer Eingangsgröße (u) und einer Ausgangsgröße (y); wobei Zeitreihen der Eingangsgröße (u) und der Ausgangsgröße (y) bis zu einem Zeitschritt erfasst werden (S1), wobei eine diskrete ARMAX-Modellstruktur für die ermittelten korrespondierenden Zeitreihen der Eingangsgröße und Ausgangsgröße angepasst wird (S2), um einen ersten Parametersatz (A) zur Abbildung der Zeitreihe der Eingangsgröße (u) und einen zweiten Parametersatz (B) zur Abbildung der Zeitreihe der Ausgangsgröße (y) zu bestimmen, wobei das Gütemaß (G) abhängig von dem ersten und dem zweiten Parametersatz (A, B) für den Zeitschritt (t) bestimmt wird. A method of continuously determining a measure of quality for a control device of a technical device or for a system model of a technical system, from an input variable and an output variable. Time series of the input variable and the output variable are acquired up to a time step. A discrete ARMAX model structure is adapted for the ascertained, corresponding time series of the input variable and output variable, in order to determine a first set of parameters for modeling the time series of the input variable and a second set of parameters for modeling the time series of the output variable. The measure of quality is determined for the time step as a function of the first and the second set of parameters.