Verfahren zum Detektieren einer Ablagerung auf einem Sensorsystem und Sensorsystem
Verfahren (100) zum Detektieren einer Ablagerung auf einem Sensorelement (201) eines Sensorsystems (200), mindestens umfassend:* Aufnehmen (101) von ersten Messwerten einer ersten physikalischen Messgröße für einen das Sensorelement (201) umfassenden Bereich (202) des Sensorsystems (200) und Bestimm...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Verfahren (100) zum Detektieren einer Ablagerung auf einem Sensorelement (201) eines Sensorsystems (200), mindestens umfassend:* Aufnehmen (101) von ersten Messwerten einer ersten physikalischen Messgröße für einen das Sensorelement (201) umfassenden Bereich (202) des Sensorsystems (200) und Bestimmen (103) eines ersten Zustands des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) des Sensorsystems (200) auf Basis der ersten Messwerte durch eine erste Messeinrichtung (203);* Aufnehmen (105) von zweiten Messwerten einer zweiten physikalischen Messgröße für den das Sensorelement (201) umfassenden Bereich (202) des Sensorsystems (200) und Bestimmen (107) eines zweiten Zustands des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) des Sensorsystems (200) auf Basis der zweiten Messwerte durch eine zweite Messeinrichtung (205); wobei ein erster Referenzzustand und ein zweiter Referenzzustand jeweils ein Zustand des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) des Sensorsystems (200) ohne Ablagerung (217) bezüglich der ersten physikalischen Messgröße und der zweiten physikalischen Messgröße ist und* Prüfen, ob die Ablagerung (217) vorhanden ist, und* Detektieren (109) der Ablagerung auf dem Sensorelement auf Basis des ersten Zustands und/oder des zweiten Zustands, wobei* das Aufnehmen (101) der ersten Messwerte ein Heizen und ein Bestimmen einer Temperatur und/oder einer zeitlichen Temperaturänderungsrate des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) mittels eines Heizelements umfasst, und wobei der erste Zustand und der erste Referenzzustand jeweils eine Wärmeaufnahme des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) umfassen, und* das Aufnehmen (105) der zweiten Messwerte ein Messen einer elektrischen Kapazität umfasst, und wobei der zweite Zustand und der zweite Referenzzustand jeweils ein dielektrisches Verhalten des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) umfassen,* wobei das Detektieren (109) der Ablagerung (217)◯ eine Ermittlung (113) einer ersten Abweichung des ersten Zustands von dem ersten Referenzzustand und◯ Ermittlung (115) einer zweiten Abweichung des zweiten Zustands von dem zweiten Referenzzustand des das Sensorelement (201) umfassenden Bereichs (202) des Sensorsystems (200) durch eine Auswerteeinheit (207) undo Bestimmen (117) einer Eigenschaft der Ablagerung (217) auf Basis der ersten Abweichung und der zweiten Abweichung umfasst. |
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