ORGANISCHE LICHTEMITTIERENDE ANZEIGEVORRICHTUNG UND ANSTEUERUNGSVERFAHREN DAVON

Die vorliegende Erfindung betrifft eine organische lichtemittierende Anzeigevorrichtung (100) und ein Ansteuerungsverfahren davon, die eine Beschädigung in einem Abtasttransistor (T1) in einer organischen lichtemittierenden Anzeigevorrichtung, in der der Abtasttransistor (T1) und ein Ermittlungstransistor (D2) gleichzeitig arbeiten, ermitteln können, und die organische lichtemittierende Anzeigevorrichtung (100) weist auf: eine OLED, die in einem Subpixel (SP) angeordnet ist; einen Ansteuerungstransistor (DT), der elektrisch zwischen die OLED und eine Ansteuerungsspannungsleitung geschaltet ist; einen Abtasttransistor (T1), der elektrisch zwischen einen ersten Knoten (N1), durch den eine Datenspannung (Vdata) an den Ansteuerungstransistor (DT) angelegt wird, und eine Datenleitung (DL) geschaltet ist; einen Ermittlungstransistor (T2), der elektrisch zwischen einen zweiten Knoten (N2) zwischen dem Ansteuerungstransistor (DT) und der OLED und eine Bezugsspannungsleitung geschaltet ist; und einen Beschädigungsdetektor (200) zum Anlegen der Datenspannung (Vdata) in einem Zustand, in dem sowohl der Abtasttransistor (T1) als auch der Ermittlungstransistor (T2) ausgeschaltet sind, und dann Ermitteln einer Ladungsmenge, die in einen parasitären Kondensator (COLED) der OLED geladen sind, zum Ermitteln, ob der Abtasttransistor (T1), der in dem Subpixel (SP) angeordnet ist, beschädigt ist. The disclosure relates to an organic light emitting display device that can detect a defect in a scan transistor in the device in which the scan transistor and a sensing transistor simultaneously operate, and the device includes: an OLED in a subpixel; a driving transistor connected between the OLED and a driving voltage line; a scan transistor connected between a first node through which a data voltage is applied to the driving transistor and a data line; a sensing transistor connected between a second node between the driving transistor, the OLED, and a reference voltage line; and a defect detector for applying the data voltage in a state in which both the scan transistor and the sensing transistor are turned off and then detecting an amount of charges charged in a parasitic capacitor of the OLED to determine whether the scan transistor is defective due to foreign substances.