Verfahren, Steuervorrichtung und nichtflüchtiger Datenspeicher
Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann ein Verfahren (200) zum Einmessen eines reaktiven Beschichtungsprozesses aufweisen: Ermitteln (201) einer ersten Auslenkung des Beschichtungsprozesses aus einem ersten Referenzzustand, welche mittels einer ersten Stellgröße, die den Beschichtungsprozess bee...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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