Verfahren, Steuervorrichtung und nichtflüchtiger Datenspeicher

Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann ein Verfahren (200) zum Einmessen eines reaktiven Beschichtungsprozesses aufweisen: Ermitteln (201) einer ersten Auslenkung des Beschichtungsprozesses aus einem ersten Referenzzustand, welche mittels einer ersten Stellgröße, die den Beschichtungsprozess bee...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Weichsel, Tim
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	CHEMICAL SURFACE TREATMENT CHEMISTRY COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL COATING METALLIC MATERIAL DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL METALLURGY SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann ein Verfahren (200) zum Einmessen eines reaktiven Beschichtungsprozesses aufweisen: Ermitteln (201) einer ersten Auslenkung des Beschichtungsprozesses aus einem ersten Referenzzustand, welche mittels einer ersten Stellgröße, die den Beschichtungsprozess beeinflusst, angeregt wird; Ermitteln (203) einer zweiten Auslenkung des Beschichtungsprozesses aus einem zweiten Referenzzustand, welche mittels der ersten Stellgröße angeregt wird; wobei sich der erste Referenzzustand und der zweite Referenzzustand in einem Zustand einer zweiten Stellgröße, die den Beschichtungsprozess beeinflusst, voneinander unterscheiden; Ermitteln (205), basierend auf der ersten Auslenkung und der zweiten Auslenkung, eines Modells des Beschichtungsprozesses, welches eine Verknüpfung zwischen der ersten Stellgröße und der zweiten Stellgröße implementiert.