ON-CHIP-AUSFÜHRUNG EINES IN-SYSTEM-TESTS UNTER VERWENDUNG EINES VERALLGEMEINERTEN TESTBILDES

Systeme und Verfahren ermöglichen das Aktualisieren von Tests, Testsequenzen, Fehlermodellen und Testbedingungen wie Spannung und Taktfrequenzen über den Lebenszyklus einer sicherheitskritischen Anwendung für komplexe integrierte Schaltungen und Systeme hinweg. Systems and methods enable the updatin...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Nerallapally, Venkat Abilash Reddy, Sarangi, Shantanu K, Sonawane, Milind Bhaiyyasaheb, Chadalavada, Sailendra, Manesh, Rangavajjula Kameswara Naga, Pandey, Jayesh Kumar, Raj, Sumit
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Systeme und Verfahren ermöglichen das Aktualisieren von Tests, Testsequenzen, Fehlermodellen und Testbedingungen wie Spannung und Taktfrequenzen über den Lebenszyklus einer sicherheitskritischen Anwendung für komplexe integrierte Schaltungen und Systeme hinweg. Systems and methods enable the updating of tests, test sequences, fault models, and test conditions such as voltage and clock frequencies, over the life cycle of a safety critical application for complex integrated circuits and systems.