Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrel...

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Hauptverfasser: Jerome, Nicholas Tan, Rolf, Stefan
Format: Patent
Sprache:ger
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container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
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creator Jerome, Nicholas Tan
Rolf, Stefan
description Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrelierende Messgrößen zu messen. Gemäß dem Verfahren wird ein Korrelations-Koeffizient zwischen den zumindest zwei Messgrößen auf Basis eines vordefinierten Korrelationsmusters berechnet und das Mess-Systems als funktionsunfähig eingestuft, sofern der Korrelations-Koeffizient einen vordefinierten ersten Grenzwert unterschreitet. Je nach Implementierung des Verfahrens kann die Funktionstüchtigkeit hierbei quasi verzögerungsfrei während des laufenden Messbetriebs ermittelt werden, wodurch potentiell gefährliche Zustände innerhalb der entsprechenden Prozess-Anlage verhindert werden.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE102019127961A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE102019127961A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE102019127961A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHAPSy1KS8woSs1TqCotUjg8Jym1qKDo8J600rx0hZTUIgW30rzsksz8vOKSw3uSM0oy07NTM0sUyvLzFHxTi4t1gyuLS1JzU_N4GFjTEnOKU3mhNDeDqptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakm8i6uhgZGBoaWhkbmlmaGjoTGx6gB_qzg8</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen</title><source>esp@cenet</source><creator>Jerome, Nicholas Tan ; Rolf, Stefan</creator><creatorcontrib>Jerome, Nicholas Tan ; Rolf, Stefan</creatorcontrib><description>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrelierende Messgrößen zu messen. Gemäß dem Verfahren wird ein Korrelations-Koeffizient zwischen den zumindest zwei Messgrößen auf Basis eines vordefinierten Korrelationsmusters berechnet und das Mess-Systems als funktionsunfähig eingestuft, sofern der Korrelations-Koeffizient einen vordefinierten ersten Grenzwert unterschreitet. Je nach Implementierung des Verfahrens kann die Funktionstüchtigkeit hierbei quasi verzögerungsfrei während des laufenden Messbetriebs ermittelt werden, wodurch potentiell gefährliche Zustände innerhalb der entsprechenden Prozess-Anlage verhindert werden.</description><language>ger</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; MEASURING ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210422&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102019127961A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210422&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102019127961A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Jerome, Nicholas Tan</creatorcontrib><creatorcontrib>Rolf, Stefan</creatorcontrib><title>Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen</title><description>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrelierende Messgrößen zu messen. Gemäß dem Verfahren wird ein Korrelations-Koeffizient zwischen den zumindest zwei Messgrößen auf Basis eines vordefinierten Korrelationsmusters berechnet und das Mess-Systems als funktionsunfähig eingestuft, sofern der Korrelations-Koeffizient einen vordefinierten ersten Grenzwert unterschreitet. Je nach Implementierung des Verfahrens kann die Funktionstüchtigkeit hierbei quasi verzögerungsfrei während des laufenden Messbetriebs ermittelt werden, wodurch potentiell gefährliche Zustände innerhalb der entsprechenden Prozess-Anlage verhindert werden.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHAPSy1KS8woSs1TqCotUjg8Jym1qKDo8J600rx0hZTUIgW30rzsksz8vOKSw3uSM0oy07NTM0sUyvLzFHxTi4t1gyuLS1JzU_N4GFjTEnOKU3mhNDeDqptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakm8i6uhgZGBoaWhkbmlmaGjoTGx6gB_qzg8</recordid><startdate>20210422</startdate><enddate>20210422</enddate><creator>Jerome, Nicholas Tan</creator><creator>Rolf, Stefan</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210422</creationdate><title>Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen</title><author>Jerome, Nicholas Tan ; Rolf, Stefan</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102019127961A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2021</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Jerome, Nicholas Tan</creatorcontrib><creatorcontrib>Rolf, Stefan</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Jerome, Nicholas Tan</au><au>Rolf, Stefan</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen</title><date>2021-04-22</date><risdate>2021</risdate><abstract>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrelierende Messgrößen zu messen. Gemäß dem Verfahren wird ein Korrelations-Koeffizient zwischen den zumindest zwei Messgrößen auf Basis eines vordefinierten Korrelationsmusters berechnet und das Mess-Systems als funktionsunfähig eingestuft, sofern der Korrelations-Koeffizient einen vordefinierten ersten Grenzwert unterschreitet. Je nach Implementierung des Verfahrens kann die Funktionstüchtigkeit hierbei quasi verzögerungsfrei während des laufenden Messbetriebs ermittelt werden, wodurch potentiell gefährliche Zustände innerhalb der entsprechenden Prozess-Anlage verhindert werden.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language ger
recordid cdi_epo_espacenet_DE102019127961A1
source esp@cenet
subjects ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS
MEASURING
MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE
MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
PHYSICS
TARIFF METERING APPARATUS
TESTING
title Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-02T11%3A02%3A02IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Jerome,%20Nicholas%20Tan&rft.date=2021-04-22&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE102019127961A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true