Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit von Mess-Systemen

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrel...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jerome, Nicholas Tan, Rolf, Stefan
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung der Funktionstüchtigkeit eines Mess-Systems für die Prozess-Automatisierung, insbesondere eines Mess-Systems zur Bestimmung des Dielektrizitätswertes. Dabei muss das Mess-System zur Umsetzung des Verfahrens ausgelegt sein, um zumindest zwei korrelierende Messgrößen zu messen. Gemäß dem Verfahren wird ein Korrelations-Koeffizient zwischen den zumindest zwei Messgrößen auf Basis eines vordefinierten Korrelationsmusters berechnet und das Mess-Systems als funktionsunfähig eingestuft, sofern der Korrelations-Koeffizient einen vordefinierten ersten Grenzwert unterschreitet. Je nach Implementierung des Verfahrens kann die Funktionstüchtigkeit hierbei quasi verzögerungsfrei während des laufenden Messbetriebs ermittelt werden, wodurch potentiell gefährliche Zustände innerhalb der entsprechenden Prozess-Anlage verhindert werden.