Verfahren zum Herstellen einer Baugruppe mit mehreren Halbleiterbauteilen, Baugruppe und Verwendung einer Baugruppe

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Baugruppe mit mehreren Halbleiterbauteilen und einer Speichereinheit, bei dem nach wenigstens einem teilweisen Zusammenbau der Baugruppe ein In-Circuit-Test (240) der Baugruppe durchgeführt wird, wobei während des In-Circuit-Tests (240) Messwerte (M) für einen oder mehrere Parameter der Baugruppe und/oder der Halbleiterbauteile ermittelt werden, wobei die ermittelten Messwerte (M) zwischengespeichert werden, und wobei die zwischengespeicherten Messwerte (M) und/oder davon abgeleitete Werte (M') für die Baugruppe und/oder die Halbleiterbauteile nach dem Zusammenbau der Baugruppe in der Speichereinheit der Baugruppe gespeichert werden, sowie eine solche Baugruppe und eine Verwendung einer solchen Baugruppe.