Verfahren und Vorrichtung zur Abschätzung der Abnutzung eines nicht-flüchtigen Informationsspeichers

Verfahren (100), insbesondere computerimplementiertes Verfahren, zur Abschätzung einer Abnutzung eines nichtflüchtigen Informationsspeichers, NVM, insbesondere Flashspeichers, wobei das Verfahren aufweist:Ermitteln (105) eines Lastprofils bezüglich einer während eines definierten Testzeitraums auftretenden realen Zugriffslast, wobei das Lastprofil für eine Mehrzahl verschiedener Zugriffsarten jeweils eine zugehörige Zugriffslast für Zugriffe auf einen ersten NVM (3) angibt, und Erzeugen von das ermittelte Lastprofil repräsentierenden Zugriffsdaten;Bestimmen (135) eines Schätzwerts für die Abnutzung eines bestimmten zweiten NVM auf Basis der Zugriffsdaten und von einem Parametersatz, der eine abnutzungsrelevante physische oder funktionelle Eigenschaft des zweiten NVM oder ihm zu seiner Steuerung zugeordneten Speichersteuerung charakterisiert;wobei das Bestimmen (130, 135) des Schätzwerts für die Abnutzung aufweist: Ermitteln einer im Testzeitraum durch die Zugriffe auf den ersten NVM (3) bedingten Brutto-Datenmenge, welche einen dabei aufgetretenen Gesamtumfang von Zugriffen angibt, der in Abhängigkeit von dem bestimmten Lastprofil und dem Parametersatz bestimmt wird. Some embodiments relate to a method and a corresponding apparatus for estimating the wear of a non-volatile memory. Such a method may include determining a load profile with respect to a real access load occurring during a defined test period where the load profile indicates a respectively associated access load for accesses to a first NVM, and generating access data representing the determined load profile. The method further includes determining an estimated value for the wear of a particular second NVM in part on the basis of the access data.