Verfahren und Anordnung zum Vermessen von Objektoberflächen

Verfahren zum Vermessen von Objektoberflächen (25), umfassend:Vermessen einer Objektoberfläche (25) an mehreren Messpunkten (24), die entlang einer ersten Messstrecke (26) angeordnet sind, sodass für jeden der Messpunkte (24) ein Messwert, nämlich ein Koordinatenwert bezüglich einer quer zur Objekto...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Bader, Ferdinand, Kistner, Thomas
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Verfahren zum Vermessen von Objektoberflächen (25), umfassend:Vermessen einer Objektoberfläche (25) an mehreren Messpunkten (24), die entlang einer ersten Messstrecke (26) angeordnet sind, sodass für jeden der Messpunkte (24) ein Messwert, nämlich ein Koordinatenwert bezüglich einer quer zur Objektoberfläche (25) verlaufenden Koordinatenachse oder eine örtliche Abweichung von einem idealen oder vermuteten Verlauf der Objektoberfläche (25) entlang der ersten Messstrecke (26), erhalten wird;Vermessen der Objektoberfläche (25) an mehreren entlang einer zweiten Messstrecke (30) angeordneten Messpunkten (24), wobei die zweite Messstrecke (30) länger als die erste Messstrecke (26) ist und eine geringere Messpunktdichte als die erste Messstrecke (26) aufweist, undVermessen der Objektoberfläche (25) entlang einer dritten Messstrecke (40), die mehrere Messbereiche (44) mit jeweils wenigstens einem Messpunkt (24) enthält, wobei die dritte Messstrecke (40) zumindest teilweise auf Basis der durch das Vermessen entlang der ersten und der zweiten Messstrecke (26, 30) gewonnenen Messergebnisse definiert ist.