Verfahren zur Bestimmung einer Ankunftszeit eines eine physikalische Messgröße repräsentierenden, digitalisierten Signalpulses, Auswerteeinheit, Vorrichtung, Auswertsystem und Strahlendetektionssystem
Verfahren zur Bestimmung einer Ankunftszeit (tm) eines eine physikalische Messgröße repräsentierenden, digitalisierten Signalpulses (P), dadurch gekennzeichnet, dass- bestimmt wird, welche Form die steigende Flanke (F) des Signalpulses (P) aufweist, wobei die Form ausgewählt wird aus der Gruppe umfa...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Verfahren zur Bestimmung einer Ankunftszeit (tm) eines eine physikalische Messgröße repräsentierenden, digitalisierten Signalpulses (P), dadurch gekennzeichnet, dass- bestimmt wird, welche Form die steigende Flanke (F) des Signalpulses (P) aufweist, wobei die Form ausgewählt wird aus der Gruppe umfassend- einen zumindest im Wesentlichen linearen Anstieg,- einen nichtlinearen Anstieg ohne Wendepunkt (pi) und- einen S-ähnlichen nichtlinearen Anstieg mit wenigstens einem Wendepunkt (pi),- in allen drei Fällen eine Differenz zwischen dem Zeitpunkt (t1) des ersten Abtastpunktes (s1) des Signalpulses (P) und der Ankunftszeit (tm) des Signalpulses (P) berechnet wird über die GleichungΔt=Tka1a2−cka1wobei T die Abtastperiode darstellt, mit welcher der digitalisierte Signalpuls (P) abgetastet ist, und a1der Abtast-, insbesondere Amplituden-Wert eines ersten Abtastpunktes s1und a2der Abtast-, insbesondere Amplituden-Wert eines zweiten, späteren Abtastpunktes s2des digitalisierten Signalpulses (P), wobei s1und s2bevorzugt die allerersten beiden Abtastpunkte des Signalpulses (P) sind, und wobei für den Fall, dass ein zumindest im Wesentlichen linearer Anstieg als Form der steigenden Flanke (F) bestimmt wird, k =1 und c = 1 gesetzt wird, und für den Fall, dass ein nichtlinear Anstieg ohne Wendepunkt (pi) als Form der steigenden Flanke (F) bestimmt wird, k = exp(-T/τ) oder k=a(2T)/2a(T), wobei a(2T) und a(T) die Abtast-, insbesondere Amplituden-Werte eines dritten und zweiten Abtastpunktes eines digitalisierten Referenzpulses (R) sind, bei dem der Abtast-, insbesondere Amplituden-Wert eines ersten Abtastpunktes auf der steigenden Flanke (F) einem für die Digitalisierung des Referenzpulses angesetzten Schwellwert entspricht oder höchsten um einen vorgegebenen Wert oberhalb des Schwellwertes liegt, und c = 1 gesetzt wird, und für den Fall, dass ein S-ähnlicher nichtlinearer Anstieg mit wenigstens einem Wendepunkt (pi) als Form der steigenden Flanke (F) bestimmt wird, k = m exp(-T/τ) mit 3,30 ≤ m ≤ 4,0, insbesondere 3,50 ≤ m ≤ 3,90, bevorzugt 3,58 ≤ m ≤ 3,80, oder k=a(2T)/a(T), wobei a(2T) und a(T) die Abtast-, insbesondere Amplituden-Werte eines dritten und zweiten Abtastpunktes auf der steigenden Flanke (F) eines digitalisierten Referenzpulses (R) sind, bei dem der Abtast-, insbesondere Amplituden-Wwert eines ersten Abtastpunktes auf der steigenden Flanke (F) einem für die Digitalisierung des Referenzpulses angesetzten Schwellwert entspricht oder höchsten um einen vorgege |
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