Spektralauflösende, hochauflösende 3D-Lokalisierungmikroskopie

Es wird beschrieben ein Lokalisierungsmikroskop, das eine Abbildungseinrichtung zum Abbilden einer Probenlicht aussendenden Probe (2) aus einer Fokalebene (3) in eine Bildebene (9) aufweist,- wobei die Abbildungseinrichtung eine optische Manipulationseinrichtung (18) aufweist, die zur tiefenabhängigen Beeinflussung einer Punktbildverwaschungsfunktion des Abbildens ausgebildet ist und die Punktbildverwaschungsfunktion des Abbildens so beeinflusst, dass ein Punktemitter in der Bildebene in ein Punktemitterbild (30, 32; 42) abgebildet wird, das rotationsasymmetrisch verzeichnet ist,- wobei eine Form und/oder Ausrichtung der rotationsasymmetrischen Verzeichnung des Punktemitterbilds (30, 32; 42) von der Lage des Punktemitters zur Fokalebene (3) und einer Wellenlänge des Probenlichts abhängen und- wobei die optische Manipulationseinrichtung (18) ein erstes und ein zweites Anisotropieelement (22, 24) aufweist, welche jeweils die Punktbildverwaschungsfunktion des Abbildens anisotrop beeinflussen, um die Rotationsasymmetrie des Punktemitterbilds zu erzeugen, und jeweils eine Anisotropieachse (23, 25) aufweisen, dadurch gekennzeichnet, dass- die beiden Anisotropieelemente (22, 24) in Abbildungsrichtung hintereinanderliegend angeordnet ist und ihre Anisotropieachsen (23, 25) in einem Winkel zueinander liegen- und beide Anisotropieelemente (22, 249 jeweils eine neutrale Wellenlänge (λ, λ) haben, bei der sie die Punktbildverwaschungsfunktion des Abbildens nicht anisotrop beeinflussen,- wobei die neutralen Wellenlängen (λ, λ) verschieden sind. A localization microscope including an imaging device emitting sample light from a focal plane into an image plane, including an optical-manipulation device for depth-dependent influencing of a point-spread function of the imaging and influencing the point-spread function of the imaging such that a point emitter is imaged in the image plane into an image that is rotationally asymmetrically distorted. A form of the distortion depends on the location of the point emitter with respect to the focal plane and a wavelength of the sample light. The optical manipulation device includes first and second anisotropy elements that anisotropically influence the point spread function to produce rotational asymmetry of the point emitter image. The elements are arranged one behind the other in the imaging direction, with anisotropy axes at an angle to one another. Both elements have differing neutral wavelength at which they do not anisotropical