Verfahren zur Justierung von Prüfeinrichtungen zur Ultraschallprüfung von Werkstücken

Verfahren zur Justierung einer Prüfeinrichtung zur Ultraschallprüfung von Werkstücken, bei dem zunächst in einen Referenzkörper mit zuvor in verschiedene zu prüfende Bereiche des Referenzkörpers eingebrachten Vergleichsreflektoren Ultraschallwellen in diese Prüfbereiche eingekoppelt und innerhalb des Referenzkörpers reflektierte Ultraschallwellen empfangen und in elektrische Signale umgewandelt werden, eine Amplitude der Signale über der Laufzeit der Signale als A-Scan ausgegeben wird, wobei in Kenntnis der Art und Lage des jeweiligen Vergleichsreflektors durch Verstellen von Prüfparametern der Prüfeinrichtung das Signal bezogen auf den zu erkennenden Vergleichsreflektor derart eingestellt wird, dass der Vergleichsreflektor als Fehler-Signal erkennbar ist, und mit diesen optimierten Einstellwerten für die Prüfparameter die Prüfeinrichtung justiert wird, dadurch gekennzeichnet, dass ein Prüfraster aus zuvor festgelegten Einstellwerten in zuvor festgelegten Prüfparameterbereichen erstellt wird, die zu prüfenden Bereiche des Referenzkörpers anhand des Prüfrasters geprüft werden und die entsprechenden A-Scans als Rohdaten aufgezeichnet werden und die Optimierung der Einstellwerte für die Prüfparameter für die Justierung mit Hilfe eines Computersystems mit geeigneter Software anhand der Rohdaten durchgeführt wird. The invention relates to a method for adjusting a testing device for ultrasonic testing of workpieces, in which, firstly, in a reference body having comparison reflectors introduced beforehand into different regions of the reference body to be tested, ultrasonic waves are coupled into said test regions and ultrasonic waves reflected within the reference body are received and converted into electrical signals, with an amplitude of the signals being output over the transit time of the signals as A-scan. In the knowledge of the type and position of the comparison reflector, the signal is adjusted in relation to the comparison reflector to be identified, by adjusting test parameters of the testing device, in such a way that the comparison reflector is identifiable as an error signal, and the testing device is adjusted with these optimised adjustment values for the test parameters. In order to disclose a simplified, less time-consuming adjustment for ultrasonic testing systems, in particular for automated ultrasonic testing systems, it is proposed that a test grid is created from previously defined test adjustment values in previously defined parameter ran