Vorrichtung zum Erfassen einer Fehlfunktion einer planaren OLED-Lichtquelle oder einer Gruppe von OLED-Lichtquellen, insbesondere für einen Scheinwerfer oder eine Leuchte eines Kraftfahrzeugs

Die Vorrichtung zum Erfassen einer Fehlfunktion einer planaren OLED-Lichtquelle oder Gruppe davon umfasst einen Hauptstecker zum Zuführen einer Eingangsspannung zu der Steuereinheit, die angepasst ist, um Informationen von dem Detektor zu empfangen, und um die Spannung oder Strom erzeugende Stromversorgungseinheit für die gemessene(n) OLED Lichtquelle(n) über eine Sensoreinheit zu steuern, die den Verlauf der Strom-Spannungs-Kennlinie und/oder (einem) bestimmten Bewertungspunkt(en) davon der gemessenen OLED-Quelle(n) misst und mit einem Detektor zur Bewertung verbunden ist, ob die gemessene(n) OLED-Quelle(n) eine Fehlfunktion aufweisen, und die bewerteten Daten der Steuereinheit übermittelt. Er umfasst ferner einen Temperatursensor, um die Temperatur der OLED-Quelle(n) und/oder ihrer Umgebung zu messen; der Detektor ist so konfiguriert, dass er bewertet, ob die gemessene(n) OLED-Quelle(n) eine Fehlfunktion aufweisen, der bekannte Verlauf oder (ein) bestimmte(r) Bewertungspunkt(e) der Strom-Spannungs-Kennlinie einer fehlerfreien OLED-Quelle werden mit den erhaltenen Werten der gemessenen OLED-Quelle(n) verglichen, wobei die gemessene Temperatur berücksichtigt wird. The device for detecting a faulty function of a planar OLED light source or group thereof, comprises a main connector for supplying input voltage to the control unit adapted to receive information from the detector, and to control the voltage- or current-generating power supply unit for the measured OLED light source(s) via a sensing unit measuring the course of the V-A characteristic and/or certain evaluation point(s) thereof of the measured OLED source(s), and connected to a detector for evaluation whether the measured OLED source(s) exhibits a faulty function, and communication of the evaluated data to the control unit. It further comprises a temperature sensor to measure the temperature of the OLED source(s) and/or of their environment, the detector configured so that to evaluate whether the measured OLED source(s) exhibits a faulty function, the known course or certain evaluation point(s) of the V-A characteristic of a faultless OLED source is compared to established values of the measured OLED source(s), accounting for the measured temperature.