Verfahren zum Betrieb eines Sekundärelektronenvervielfachers im Ionendetektor eines Massenspektrometers für die Verlängerung der Lebensdauer
Verfahren zum Betrieb eines Sekundärelektronenvervielfachers im Ionendetektor (14) eines Massenspektrometers für die Verlängerung der Lebensdauer, bei dem der Sekundärelektronenvervielfacher mit einer Betriebsspannung derart versorgt wird, dass sich eine Verstärkung von weniger als 105Sekundärelektr...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Verfahren zum Betrieb eines Sekundärelektronenvervielfachers im Ionendetektor (14) eines Massenspektrometers für die Verlängerung der Lebensdauer, bei dem der Sekundärelektronenvervielfacher mit einer Betriebsspannung derart versorgt wird, dass sich eine Verstärkung von weniger als 105Sekundärelektronen pro auftreffendem Ion ergibt, wobei der Ausgangsstrom des Sekundärelektronenvervielfachers mittels eines nahe zum Sekundärelektronenvervielfacher im Vakuumsystem des Massenspektrometers oder am Gehäuse des Vakuumsystems montierten elektronischen Vorverstärkers (18, 19) derart rauscharm verstärkt wird, dass am Eingang einer Digitalisierungseinheit die Strompulse vereinzelter, auf den Ionendetektor (14) auftreffender Ionen über dem Rauschen detektiert werden.
The disclosure relates to a method of operating a secondary-electron multiplier in the ion detector of a mass spectrometer so as to prolong the service life, wherein the secondary-electron multiplier is supplied with an operating voltage in such a way that an amplification of less than 106 secondary electrons per impinging ion results, while the output current of the secondary-electron multiplier is amplified using an electronic preamplifier mounted close to the secondary-electron multiplier with such a low noise level that the current pulses of individual ions impinging on the ion detector are detected above the noise at the input of a digitizing unit. Further disclosed are the use of the methods for imaging mass spectrometric analysis of a thin tissue section or mass spectrometric high-throughput analysis/massive-parallel analysis, and a time-of-flight mass spectrometer whose control unit is programmed to execute such methods. |
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