VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG DER EUV-STRAHLUNG FÜR EUV-ABBILDUNGSANORDNUNGEN, INSBESONDERE MASKENINSPEKTIONSANLAGEN UND VORRICHTUNGEN HIERFÜR
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung und insbesondere Kompensation von räumlichen und/oder zeitlichen Veränderungen der Lichterzeugung einer EUV-Lichtquelle (1), wobei die EUV-Lichtquelle mindestens ein EUV-Strahlenbündel (2) erzeugt, welches als Nutzlicht der EUV-Lichtqu...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überwachung und insbesondere Kompensation von räumlichen und/oder zeitlichen Veränderungen der Lichterzeugung einer EUV-Lichtquelle (1), wobei die EUV-Lichtquelle mindestens ein EUV-Strahlenbündel (2) erzeugt, welches als Nutzlicht der EUV-Lichtquelle und zur Überwachung derselben verwendet wird, wobei in dem zu überwachenden EUV-Strahlenbündel (2) mindestens ein EUV-Strahlteiler (11, 11', 11'', 11''') angeordnet wird, sodass durch den EUV-Strahlteiler (11, 11', 11'', 11''') EUV-Licht aus dem EUV-Strahlenbündel (2) ausgekoppelt und auf mindestens einen außerhalb des zu überwachenden EUV-Strahlenbündels (2) angeordneten EUV-Strahlungsdetektor (14) gelenkt wird, der das ausgekoppelte EUV-Licht (12) Orts- und/oder zeitaufgelöst erfasst. Außerdem betrifft die Erfindung eine optische Anordnung mit einer EUV-Lichtquelle (1), die ein EUV-Strahlenbündel (2) ausgibt, wobei die optische Anordnung eine Vorrichtung zur Überwachung und insbesondere Kompensation von räumlichen und/oder zeitlichen Veränderungen der Lichterzeugung der EUV-Lichtquelle (1) mit Hilfe des EUV-Strahlenbündels (2) umfasst. Ferner betrifft die Erfindung einen EUV-Strahlteiler (11, 11', 11'', 11''') hierfür. |
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