Multiturn-Drehgeber und Verfahren zum Betreiben eines Multiturn-Drehgebers
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Multiturn-Drehgeber mit* einem Teilungsträger (10) mit einer Messteilung (20, 30),* einer Abtasteinrichtung (40, 140) mit der die Messteilung (20, 30) zur Erzeugung von Positionssignalen (PS, PS1, PS2) abtastbar ist,* einer Verarbeitungseinheit (100), mit der...
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| Format: | Patent |
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| creator | Wangler, Nicolai |
| description | Die vorliegende Erfindung betrifft einen Multiturn-Drehgeber mit* einem Teilungsträger (10) mit einer Messteilung (20, 30),* einer Abtasteinrichtung (40, 140) mit der die Messteilung (20, 30) zur Erzeugung von Positionssignalen (PS, PS1, PS2) abtastbar ist,* einer Verarbeitungseinheit (100), mit der die Positionssignale (PS, PS1, PS2) zu Positionswerten (POS, POS1, POS2) verarbeitbar sind,* einer Schnittstelleneinheit (250) zur Kommunikation mit einer Folgeelektronik (280) über einen Datenübertragungskanal (260) und* einem ersten Taktgenerator (400) zur Erzeugung eines Messtaktsignals (M_CLK) zur Steuerung der Abtastung der Messteilung (20, 30) in einem Pulsbetrieb, wobei eine Taktüberwachungseinheit (410) vorgesehen ist, der das Messtaktsignal (M_CLK) und/oder ein aus dem Messtaktsignal (M_CLK) resultierendes Taktsignal (V_CLK) zur Überwachung zugeführt ist und die einen zweiten Taktgenerator (420) zur Erzeugung eines Testtaktsignals (T_CLK), eine erste Vergleichereinheit (430), der das Testtaktsignal (T_CLK) und eines der zu überwachenden Taktsignale (M_CLK, V_CLK) zugeführt ist und in der ein Vergleich der zugeführten Taktsignale (T_CLK, M_CLK, V_CLK) durchführbar ist und einen Fehlerspeicher (440), in dem ein Ergebnis des Vergleichs als Statusinformation (STAT) speicherbar ist, umfasst. Weiter betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Multiturn-Drehgebers.
To provide a method for operating a multi-turn rotary encoder.SOLUTION: A clock monitoring device 410 is provided. A measurement clock signal M_CLK and/or a clock signal V_CLK generated from the measurement clock signal M_CLK is supplied to the clock monitoring device 410 for monitoring. The clock monitoring device 410 includes a second clock generator for generating a test clock signal T_CLK, a first comparison device, and an error memory. The test clock signal T_CLK and one clock signal of a plurality of clock signals M_CLK and V_CLK which are to be monitored are supplied to the first comparison device. Comparison of the plurality of supplied clock signals T_CLK, M_CLK, and V_CLK can be executed in the first comparison device, and result of the comparison can be stored in the error memory as status information STAT.SELECTED DRAWING: Figure 1 |
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To provide a method for operating a multi-turn rotary encoder.SOLUTION: A clock monitoring device 410 is provided. A measurement clock signal M_CLK and/or a clock signal V_CLK generated from the measurement clock signal M_CLK is supplied to the clock monitoring device 410 for monitoring. The clock monitoring device 410 includes a second clock generator for generating a test clock signal T_CLK, a first comparison device, and an error memory. The test clock signal T_CLK and one clock signal of a plurality of clock signals M_CLK and V_CLK which are to be monitored are supplied to the first comparison device. Comparison of the plurality of supplied clock signals T_CLK, M_CLK, and V_CLK can be executed in the first comparison device, and result of the comparison can be stored in the error memory as status information STAT.SELECTED DRAWING: Figure 1</description><language>ger</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY ; CODE CONVERSION IN GENERAL ; CODING ; DECODING ; ELECTRICITY ; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION,OR SHOCK ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2019</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20190425&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102017218767A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20190425&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102017218767A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Wangler, Nicolai</creatorcontrib><title>Multiturn-Drehgeber und Verfahren zum Betreiben eines Multiturn-Drehgebers</title><description>Die vorliegende Erfindung betrifft einen Multiturn-Drehgeber mit* einem Teilungsträger (10) mit einer Messteilung (20, 30),* einer Abtasteinrichtung (40, 140) mit der die Messteilung (20, 30) zur Erzeugung von Positionssignalen (PS, PS1, PS2) abtastbar ist,* einer Verarbeitungseinheit (100), mit der die Positionssignale (PS, PS1, PS2) zu Positionswerten (POS, POS1, POS2) verarbeitbar sind,* einer Schnittstelleneinheit (250) zur Kommunikation mit einer Folgeelektronik (280) über einen Datenübertragungskanal (260) und* einem ersten Taktgenerator (400) zur Erzeugung eines Messtaktsignals (M_CLK) zur Steuerung der Abtastung der Messteilung (20, 30) in einem Pulsbetrieb, wobei eine Taktüberwachungseinheit (410) vorgesehen ist, der das Messtaktsignal (M_CLK) und/oder ein aus dem Messtaktsignal (M_CLK) resultierendes Taktsignal (V_CLK) zur Überwachung zugeführt ist und die einen zweiten Taktgenerator (420) zur Erzeugung eines Testtaktsignals (T_CLK), eine erste Vergleichereinheit (430), der das Testtaktsignal (T_CLK) und eines der zu überwachenden Taktsignale (M_CLK, V_CLK) zugeführt ist und in der ein Vergleich der zugeführten Taktsignale (T_CLK, M_CLK, V_CLK) durchführbar ist und einen Fehlerspeicher (440), in dem ein Ergebnis des Vergleichs als Statusinformation (STAT) speicherbar ist, umfasst. Weiter betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Betreiben eines derartigen Multiturn-Drehgebers.
To provide a method for operating a multi-turn rotary encoder.SOLUTION: A clock monitoring device 410 is provided. A measurement clock signal M_CLK and/or a clock signal V_CLK generated from the measurement clock signal M_CLK is supplied to the clock monitoring device 410 for monitoring. The clock monitoring device 410 includes a second clock generator for generating a test clock signal T_CLK, a first comparison device, and an error memory. The test clock signal T_CLK and one clock signal of a plurality of clock signals M_CLK and V_CLK which are to be monitored are supplied to the first comparison device. Comparison of the plurality of supplied clock signals T_CLK, M_CLK, and V_CLK can be executed in the first comparison device, and result of the comparison can be stored in the error memory as status information STAT.SELECTED DRAWING: Figure 1</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY</subject><subject>CODE CONVERSION IN GENERAL</subject><subject>CODING</subject><subject>DECODING</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION,OR SHOCK</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2019</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPDyLc0pySwpLcrTdSlKzUhPTUotUijNS1EISy1KS8woSs1TqCrNVXBKLSlKzUwC8lIz81KLFbDoKuZhYE1LzClO5YXS3Ayqbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfEuroYGRgaG5kaGFuZm5o6GxsSqAwDqhjbs</recordid><startdate>20190425</startdate><enddate>20190425</enddate><creator>Wangler, Nicolai</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20190425</creationdate><title>Multiturn-Drehgeber und Verfahren zum Betreiben eines Multiturn-Drehgebers</title><author>Wangler, Nicolai</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102017218767A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2019</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY</topic><topic>CODE CONVERSION IN GENERAL</topic><topic>CODING</topic><topic>DECODING</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION,OR SHOCK</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Wangler, Nicolai</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Wangler, Nicolai</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Multiturn-Drehgeber und Verfahren zum Betreiben eines Multiturn-Drehgebers</title><date>2019-04-25</date><risdate>2019</risdate><abstract>Die vorliegende Erfindung betrifft einen Multiturn-Drehgeber mit* einem Teilungsträger (10) mit einer Messteilung (20, 30),* einer Abtasteinrichtung (40, 140) mit der die Messteilung (20, 30) zur Erzeugung von Positionssignalen (PS, PS1, PS2) abtastbar ist,* einer Verarbeitungseinheit (100), mit der die Positionssignale (PS, PS1, PS2) zu Positionswerten (POS, POS1, POS2) verarbeitbar sind,* einer Schnittstelleneinheit (250) zur Kommunikation mit einer Folgeelektronik (280) über einen Datenübertragungskanal (260) und* einem ersten Taktgenerator (400) zur Erzeugung eines Messtaktsignals (M_CLK) zur Steuerung der Abtastung der Messteilung (20, 30) in einem Pulsbetrieb, wobei eine Taktüberwachungseinheit (410) vorgesehen ist, der das Messtaktsignal (M_CLK) und/oder ein aus dem Messtaktsignal (M_CLK) resultierendes Taktsignal (V_CLK) zur Überwachung zugeführt ist und die einen zweiten Taktgenerator (420) zur Erzeugung eines Testtaktsignals (T_CLK), eine erste Vergleichereinheit (430), der das Testtaktsignal (T_CLK) und eines der zu überwachenden Taktsignale (M_CLK, V_CLK) zugeführt ist und in der ein Vergleich der zugeführten Taktsignale (T_CLK, M_CLK, V_CLK) durchführbar ist und einen Fehlerspeicher (440), in dem ein Ergebnis des Vergleichs als Statusinformation (STAT) speicherbar ist, umfasst. 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To provide a method for operating a multi-turn rotary encoder.SOLUTION: A clock monitoring device 410 is provided. A measurement clock signal M_CLK and/or a clock signal V_CLK generated from the measurement clock signal M_CLK is supplied to the clock monitoring device 410 for monitoring. The clock monitoring device 410 includes a second clock generator for generating a test clock signal T_CLK, a first comparison device, and an error memory. The test clock signal T_CLK and one clock signal of a plurality of clock signals M_CLK and V_CLK which are to be monitored are supplied to the first comparison device. Comparison of the plurality of supplied clock signals T_CLK, M_CLK, and V_CLK can be executed in the first comparison device, and result of the comparison can be stored in the error memory as status information STAT.SELECTED DRAWING: Figure 1</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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