Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung eines Gases

Verfahren zur massenspektrometrischen Untersuchung eines Gases (4), umfassend:Anregen von Ionen (4a, 4b) des zu untersuchenden Gases (4) in einer FT-Ionenfalle (2), Aufnehmen eines ersten Frequenz-Spektrums (FS1) in einem ersten Messzeitintervall (FFT1) während oder nach dem Anregen der Ionen (4a, 4b), wobei das erste Frequenz-Spektrum (FS1) Ionen-Frequenzen (fi) der angeregten Ionen (4a, 4b) und Störfrequenzen (fn) enthält, wobei es sich bei den Störfrequenzen um Frequenzen handelt, die nicht durch die angeregten Ionen verursacht wurden, sowieAufnehmen eines zweiten Frequenz-Spektrums (FS2) in einem zweiten Messzeitintervall (FFT2), wobei das zweite Frequenz-Spektrum (FS2) die Störfrequenzen (fn), aber nicht die Ionen-Frequenzen (fi) des ersten Frequenz-Spektrums (FS1) enthält, sowie Vergleichen des ersten Frequenz-Spektrums (FS1) mit dem zweiten Frequenz-Spektrum (FS2) zum Identifizieren der Störfrequenzen (fn) in dem ersten Frequenz-Spektrum (FS1), dadurch gekennzeichnet, dass die angeregten Ionen (4a, 4b) am Anfang des zweiten Messzeitintervalls (FFT2) oder vor dem zweiten Messzeitintervall (FFT2) aus der FT-Ionenfalle (2) entfernt werden mittels einer Anregung mit einem Anregungsgrad (A) von mindestens 100%. A method for analyzing a gas by mass spectrometry includes exciting ions of the gas to be analyzed in an FT ion trap, and recording a first frequency spectrum in a first measurement time interval during or after the excitation of the ions. The first frequency spectrum contains ion frequencies of the excited ions and interference frequencies. The method also includes recording a second frequency spectrum in a second measurement time interval. The second frequency spectrum contains the interference frequencies, but not the ion frequencies of the first frequency spectrum. The method further includes comparing the first frequency spectrum with the second frequency spectrum to identify the interference frequencies in the first frequency spectrum. The disclosure also relates to a mass spectrometer which is suitable for carrying out the method for analyzing the gas by mass spectrometry.