Sockel zum Testen elektronischer Komponenten und Teststandort Einrichtung
Ein Sockel zum Testen elektronischer Komponenten aufweisend: eine Mehrzahl von Kraft-Mess Paaren, wobei jedes Kraft-Mess Paar eine Kraft Kontaktfeder und eine Mess Kraftfeder aufweist, wobei die Kraft Kontaktfeder und die Mess Kontaktfeder angrenzend aneinander liegen, und wobei zumindest eine von d...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Ein Sockel zum Testen elektronischer Komponenten aufweisend: eine Mehrzahl von Kraft-Mess Paaren, wobei jedes Kraft-Mess Paar eine Kraft Kontaktfeder und eine Mess Kraftfeder aufweist, wobei die Kraft Kontaktfeder und die Mess Kontaktfeder angrenzend aneinander liegen, und wobei zumindest eine von der Kraft Kontaktfeder und der Mess Kontaktfeder mit einer elektrisch isolierenden Beschichtung beschichtet ist, dort wo die Kraft Kontaktfeder und die Mess Kontaktfeder aneinander anliegen.
A socket for testing electronic components comprises: a plurality of force-sense pairs, each force-sense pair comprising a force contact spring and a sense contact spring, wherein the force contact spring and the sense contact spring are lying adjacent to each other and wherein at least one of the force contact spring and the sense contact spring is coated with an electrically isolating coating where the force contact spring and the sense contact spring abut against each other. |
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