Verfahren, Kit und Target für Multimodales 3D-Bildgebungssystem
Kit zum Bestimmen einer Position eines Targets (10) für die industrielle Dimensionsmesstechnik, aufweisend:- ein Target (10) mit einem Montageteil zum Montieren in einem Objektraum und eine Targetfläche, wobei die Targetfläche mindestens eine proximale Oberfläche (12) und mindestens eine distale Obe...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Kit zum Bestimmen einer Position eines Targets (10) für die industrielle Dimensionsmesstechnik, aufweisend:- ein Target (10) mit einem Montageteil zum Montieren in einem Objektraum und eine Targetfläche, wobei die Targetfläche mindestens eine proximale Oberfläche (12) und mindestens eine distale Oberfläche (14a,b) aufweist, wobei:- jede der distalen oder jede der proximalen Oberflächen (12) überwiegend flach ist und in eine gemeinsame Normalrichtung weist;- jede distale Oberfläche (14a,b) sich um mindestes 3 mm von jeder proximalen Oberfläche (12) entlang der Normalrichtung unterscheidet;- Reflektivitätsfaktoren jeder der distalen Oberflächen (14a,b) sich um mindestens 20 % von denen jeder der proximalen Oberflächen (12) unterscheiden;- Steiger, die Paare der proximalen (14a,b) und distalen (12) Oberflächen verbinden, ausreichend unterschnitten sind, derart, dass keiner der Steiger aus einem Winkel innerhalb 5° aus der Normalrichtung sichtbar ist; und- mindestens zwei Referenzkanten (15a,b,c,d) definiert sind, wo Steiger jeweilige proximale Oberflächen (12) treffen; und- ein Messwerkzeug, das entweder einen Retroreflektor oder ein Nest (30) für einen Retroreflektor umfasst, wobei das Werkzeug ein oder mehrere Treffmerkmale für die Registrierung bei einer oder mehrerer der Kanten (15a,b,c,d) der überwiegend flachen Oberflächen aufweist, wobei die Kanten (15a,b,c,d) derart angeordnet sind, dass eine Erfassung von Koordinaten des Retroreflektors oder eines im Nest (30) montierten Retroreflektors mit dem Werkzeug in mindestens zwei registrierten Positionen mindestens eine Mitte des Targets (10) bestimmen.
A technique for acquiring target's coordinates for industrial dimensional metrology involves a target that serves both as a 2D contrast target and a 3D contact target, and a metrology tool. The target has proximal and distal surfaces, at least some of which being primarily flat and facing a common normal direction. At least 3 mm separate the proximal and distal surfaces in the normal direction. Reflectivity factors of the distal and proximal surfaces differ by at least 20%. Risers connecting pairs of the proximal and distal surfaces are sufficiently undercut so that none of the risers are in view at nominal viewing angles. At least two reference edges are defined where risers meet proximal surfaces. The tool has meeting features for registration with the edges and primarily flat surfaces, in at least two registered positions, to permit a retroreflector of the |
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