Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts
Vorrichtung (1) zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts, aufweisend- eine Lichtquelle (2) zur Beleuchtung des Prüfobjekts,- einen Detektor (3) zur Detektion von der Lichtquelle (2) ausgesandten Lichts,- eine Fördereinrichtung (4) zum Bewegen des Prüfobjekts durch einen zwischen der Lichtquelle...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Vorrichtung (1) zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts, aufweisend- eine Lichtquelle (2) zur Beleuchtung des Prüfobjekts,- einen Detektor (3) zur Detektion von der Lichtquelle (2) ausgesandten Lichts,- eine Fördereinrichtung (4) zum Bewegen des Prüfobjekts durch einen zwischen der Lichtquelle (2) und dem Detektor (3) angeordneten Raum, wobei die Fördereinrichtung (4) zwei voneinander beabstandete Umlenkwalzen (6, 7) aufweist, zwischen welchen ein Spalt (5) ausgebildet ist, in dem die Lichtquelle (2) angeordnet ist,- einen zumindest teilweise im Spalt (5) angeordneten Übergangssteg (8) zum Überführen des Prüfobjekts über den Spalt (5), und- eine leistenförmige Trägervorrichtung (9) mit zumindest einer Aussparung (10), wobei der Übergangssteg (8) in der Aussparung (10) angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass- der Übergangssteg (8) eine Länge aufweist, welche mindestens zehnmal so groß ist wie seine Breite und/oder Höhe,- der Übergangssteg (8) von der Trägervorrichtung (9) ausgehend in den Spalt (5) hineinragt,- der Übergangssteg (8) derart in den Spalt (5) hineinragt, dass seine Längsausrichtung in Richtung der Förderrichtung (14) der Fördereinrichtung (4) verläuft, und- der Übergangssteg (8) lösbar mit der Trägervorrichtung (9) verbunden ist. |
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