Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts
Es wird eine Vorrichtung (1) zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts angegeben. Die Vorrichtung (1) weist eine Lichtquelle (2) zur Beleuchtung des Prüfobjekts, einen Detektor (3) zur Detektion von der Lichtquelle (2) ausgesandten Lichts, eine Fördereinrichtung (4) und einen Übergangssteg (8) au...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Es wird eine Vorrichtung (1) zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts angegeben. Die Vorrichtung (1) weist eine Lichtquelle (2) zur Beleuchtung des Prüfobjekts, einen Detektor (3) zur Detektion von der Lichtquelle (2) ausgesandten Lichts, eine Fördereinrichtung (4) und einen Übergangssteg (8) auf. Die Fördereinrichtung (4) ist zum Bewegen des Prüfobjekts durch einen zwischen der Lichtquelle (2) und dem Detektor (3) angeordneten Raum ausgebildet und weist zwei voneinander beabstandete Umlenkwalzen (6, 7) auf, zwischen welchen ein Spalt (5) ausgebildet ist, in dem die Lichtquelle (2) angeordnet ist. Der Übergangssteg (8) ist zumindest teilweise im Spalt (5) angeordnet und zum Überführen des Prüfobjekts über den Spalt (5) ausgebildet. Weiterhin wird ein Verfahren zur Detektion von Defekten eines Prüfobjekts angegeben. |
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