Verfahren zum Betrieb einer Messeinrichtung zur Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche eines Walzenkörpers
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb einer Messeinrichtung zur Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche eines Walzenkörpers, mit folgenden Verfahrensschritten: a. Ermitteln einer ersten Temperatur (T1) der Walzenkörperoberfläche mittels wenigstens eines ersten Temperatursensors, b. E...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb einer Messeinrichtung zur Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche eines Walzenkörpers, mit folgenden Verfahrensschritten: a. Ermitteln einer ersten Temperatur (T1) der Walzenkörperoberfläche mittels wenigstens eines ersten Temperatursensors, b. Einstellen einer Abtastfrequenz des wenigstens ersten Temperatursensors in Abhängigkeit von der ersten Temperatur (T1). |
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