Verfahren zur Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen

Um ein Verfahren zu schaffen, mit dem eine verbesserte Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen erfolgen kann, wird folgendes Verfahren mit folgenden Schritten vorgeschlagen: a) Bereitstellen eines Reifenbauteiles mit einer Vorrichtung zum Herstellen von Reifenbaut...

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1. Verfasser: Holodenko, Mihail
Format: Patent
Sprache:ger
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creator Holodenko, Mihail
description Um ein Verfahren zu schaffen, mit dem eine verbesserte Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen erfolgen kann, wird folgendes Verfahren mit folgenden Schritten vorgeschlagen: a) Bereitstellen eines Reifenbauteiles mit einer Vorrichtung zum Herstellen von Reifenbauteilen, wobei das Reifenbauteil (2) in Form einer Materiallage und als Endlosmaterial hergestellt wird, b) Kontinuierliches Fördern des Reifenbauteiles (2) entlang einer Förderstrecke, wobei oberhalb und/oder unterhalb des Reifenbauteiles (2) ein Terahertzsensor (4) angeordnet ist, c) Durchführen einer kontinuierlichen Materialdickenmessung am Reifenbauteil (2), wobei mit dem Terahertzsensor (4) eine Terahertzstrahlung generiert wird, wobei an den Materialgrenzen im Reifenbauteil (2) Reflektionen in Form von Echos entstehen, wobei mit den vom Terahertzsensor (4) ermittelten Laufzeiten der Echos mindestens eine Materialschichtdicke (10, 11, 12) im Reifenbauteil (2) ermittelt wird, f) Kontinuierliches Auswerten der empfangenen Messsignale mit einer Software und Überwachen der Materialschichtdicke (10, 11, 12) des Reifenbauteiles (2), wobei die ermittelte Materialschichtdicke (10, 11, 12) jeweils mit einer vorgegebenen Materialschichtdicke (10, 11, 12) verglichen wird.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE102016212074A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE102016212074A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE102016212074A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNi7sOgjAYRlkcjPoO_-JoQtHI7AXD4mKMiRMp5av9YymkLQ4-vZf4AE5nOOeMk-sFXkvj4eg5eNoiRG7bwd2ogaejjPAsbVCGlYkNqzuoBn9lCR8irP3Ej87RCazhajlEsIWbJiP9PjH7cZLMD8V5Vy7QdxVCLxUcYrUvRJqlYp2JLM1XG7H8t3sB7ww8mA</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Verfahren zur Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen</title><source>esp@cenet</source><creator>Holodenko, Mihail</creator><creatorcontrib>Holodenko, Mihail</creatorcontrib><description>Um ein Verfahren zu schaffen, mit dem eine verbesserte Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen erfolgen kann, wird folgendes Verfahren mit folgenden Schritten vorgeschlagen: a) Bereitstellen eines Reifenbauteiles mit einer Vorrichtung zum Herstellen von Reifenbauteilen, wobei das Reifenbauteil (2) in Form einer Materiallage und als Endlosmaterial hergestellt wird, b) Kontinuierliches Fördern des Reifenbauteiles (2) entlang einer Förderstrecke, wobei oberhalb und/oder unterhalb des Reifenbauteiles (2) ein Terahertzsensor (4) angeordnet ist, c) Durchführen einer kontinuierlichen Materialdickenmessung am Reifenbauteil (2), wobei mit dem Terahertzsensor (4) eine Terahertzstrahlung generiert wird, wobei an den Materialgrenzen im Reifenbauteil (2) Reflektionen in Form von Echos entstehen, wobei mit den vom Terahertzsensor (4) ermittelten Laufzeiten der Echos mindestens eine Materialschichtdicke (10, 11, 12) im Reifenbauteil (2) ermittelt wird, f) Kontinuierliches Auswerten der empfangenen Messsignale mit einer Software und Überwachen der Materialschichtdicke (10, 11, 12) des Reifenbauteiles (2), wobei die ermittelte Materialschichtdicke (10, 11, 12) jeweils mit einer vorgegebenen Materialschichtdicke (10, 11, 12) verglichen wird.</description><language>ger</language><subject>AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PERFORMING OPERATIONS ; PHYSICS ; PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCESIN A PLASTIC STATE ; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDEDFOR ; SHAPING OR JOINING OF PLASTICS ; TESTING ; TRANSPORTING ; WORKING OF PLASTICS ; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE, IN GENERAL</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180104&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102016212074A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25562,76317</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180104&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102016212074A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Holodenko, Mihail</creatorcontrib><title>Verfahren zur Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen</title><description>Um ein Verfahren zu schaffen, mit dem eine verbesserte Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen erfolgen kann, wird folgendes Verfahren mit folgenden Schritten vorgeschlagen: a) Bereitstellen eines Reifenbauteiles mit einer Vorrichtung zum Herstellen von Reifenbauteilen, wobei das Reifenbauteil (2) in Form einer Materiallage und als Endlosmaterial hergestellt wird, b) Kontinuierliches Fördern des Reifenbauteiles (2) entlang einer Förderstrecke, wobei oberhalb und/oder unterhalb des Reifenbauteiles (2) ein Terahertzsensor (4) angeordnet ist, c) Durchführen einer kontinuierlichen Materialdickenmessung am Reifenbauteil (2), wobei mit dem Terahertzsensor (4) eine Terahertzstrahlung generiert wird, wobei an den Materialgrenzen im Reifenbauteil (2) Reflektionen in Form von Echos entstehen, wobei mit den vom Terahertzsensor (4) ermittelten Laufzeiten der Echos mindestens eine Materialschichtdicke (10, 11, 12) im Reifenbauteil (2) ermittelt wird, f) Kontinuierliches Auswerten der empfangenen Messsignale mit einer Software und Überwachen der Materialschichtdicke (10, 11, 12) des Reifenbauteiles (2), wobei die ermittelte Materialschichtdicke (10, 11, 12) jeweils mit einer vorgegebenen Materialschichtdicke (10, 11, 12) verglichen wird.</description><subject>AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PERFORMING OPERATIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCESIN A PLASTIC STATE</subject><subject>SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDEDFOR</subject><subject>SHAPING OR JOINING OF PLASTICS</subject><subject>TESTING</subject><subject>TRANSPORTING</subject><subject>WORKING OF PLASTICS</subject><subject>WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE, IN GENERAL</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNi7sOgjAYRlkcjPoO_-JoQtHI7AXD4mKMiRMp5av9YymkLQ4-vZf4AE5nOOeMk-sFXkvj4eg5eNoiRG7bwd2ogaejjPAsbVCGlYkNqzuoBn9lCR8irP3Ej87RCazhajlEsIWbJiP9PjH7cZLMD8V5Vy7QdxVCLxUcYrUvRJqlYp2JLM1XG7H8t3sB7ww8mA</recordid><startdate>20180104</startdate><enddate>20180104</enddate><creator>Holodenko, Mihail</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20180104</creationdate><title>Verfahren zur Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen</title><author>Holodenko, Mihail</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102016212074A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2018</creationdate><topic>AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PERFORMING OPERATIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCESIN A PLASTIC STATE</topic><topic>SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDEDFOR</topic><topic>SHAPING OR JOINING OF PLASTICS</topic><topic>TESTING</topic><topic>TRANSPORTING</topic><topic>WORKING OF PLASTICS</topic><topic>WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE, IN GENERAL</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Holodenko, Mihail</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Holodenko, Mihail</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Verfahren zur Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen</title><date>2018-01-04</date><risdate>2018</risdate><abstract>Um ein Verfahren zu schaffen, mit dem eine verbesserte Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen erfolgen kann, wird folgendes Verfahren mit folgenden Schritten vorgeschlagen: a) Bereitstellen eines Reifenbauteiles mit einer Vorrichtung zum Herstellen von Reifenbauteilen, wobei das Reifenbauteil (2) in Form einer Materiallage und als Endlosmaterial hergestellt wird, b) Kontinuierliches Fördern des Reifenbauteiles (2) entlang einer Förderstrecke, wobei oberhalb und/oder unterhalb des Reifenbauteiles (2) ein Terahertzsensor (4) angeordnet ist, c) Durchführen einer kontinuierlichen Materialdickenmessung am Reifenbauteil (2), wobei mit dem Terahertzsensor (4) eine Terahertzstrahlung generiert wird, wobei an den Materialgrenzen im Reifenbauteil (2) Reflektionen in Form von Echos entstehen, wobei mit den vom Terahertzsensor (4) ermittelten Laufzeiten der Echos mindestens eine Materialschichtdicke (10, 11, 12) im Reifenbauteil (2) ermittelt wird, f) Kontinuierliches Auswerten der empfangenen Messsignale mit einer Software und Überwachen der Materialschichtdicke (10, 11, 12) des Reifenbauteiles (2), wobei die ermittelte Materialschichtdicke (10, 11, 12) jeweils mit einer vorgegebenen Materialschichtdicke (10, 11, 12) verglichen wird.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language ger
recordid cdi_epo_espacenet_DE102016212074A1
source esp@cenet
subjects AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PERFORMING OPERATIONS
PHYSICS
PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCESIN A PLASTIC STATE
SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDEDFOR
SHAPING OR JOINING OF PLASTICS
TESTING
TRANSPORTING
WORKING OF PLASTICS
WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE, IN GENERAL
title Verfahren zur Bestimmung der Materialschichtdicke bei der Herstellung von Reifenbauteilen
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-14T11%3A32%3A00IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Holodenko,%20Mihail&rft.date=2018-01-04&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE102016212074A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true